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参数资料
| 型号： | FBA04HA600KD-00 |
| 厂商： | Taiyo Yuden |
| 文件页数： | 16/18页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | FERRITE BEAD 60 OHMS AXIAL LEAD |
| 标准包装： | 1,000 |
| 系列： | FB |
| 频率对应阻抗： | 60 欧姆 @ 50MHz |
| 额定电流： | 7A |
| DC 电阻(DCR)： | 最大 10 毫欧 |
| 滤波器类型： | 差模 - 单线 |
| 封装/外壳： | 轴向 |
| 安装类型： | 通孔 |
| 包装： | 散装 |
| 尺寸/尺寸： | 0.138" 直径 x 0.236" L（3.50mm x 6.00mm） |
25. Loading under damp heat
CAL45 Type
△L/L : Within ±10%
Appearance : No abnormality
Specified Value
LHL□□□
Inductance change : Within ±10%
Q change : Within ±30% (LHLP : only △L/L)
FBA/FBR
CAL45 Type :
Temperature
Humidity
Duration
Applied current
: 40±2℃
: 90～95%RH
: 1000 hrs
: Rated current
Test Methods and
Remarks
Recovery
LHL□□□ :
: At least 1hr of recovery under the standard removal from test chamber, followed by the measurement within 2hrs.
Temperature
Humidity
Duration
Applied current
Recovery
26. Loading at high temperature
CAL45 Type
Specified Value
LHL□□□
FBA/FBR
CAL45 Type :
:
:
:
:
:
40±2℃
90～95%RH
1000＋48/-0 hrs
Rated current
1 to 2hrs of recovery under the standard condition after the removal from the test chamber.
△L/L : Within ±10%
Test Methods and
Remarks
Temperature
Duration
Applied current
Recovery
: 85±2℃
: 1000 hrs
: Rated current
: At least 1hr of recovery under the standard removal from test chamber, followed by the measurement within 2hrs.
27. Low temperature life test
CAL45 Type
△L/L : Within ±10%
Appearance : No abnormality
Specified Value
LHL□□□
Inductance change : Within ±10%
Q change : Within ±30% (LHLP : only △L/L)
FBA/FBR
CAL45 Type :
Temperature
Duration
: －25±2℃
: 1000 hrs
Test Methods and
Remarks
Recovery
LHL□□□ :
Temperature
Duration
Recovery
: At least 1hr of recovery under the standard removal from test chamber, followed by the measurement within 2hrs.
:－40±3℃
: 1000＋48/-0 hrs
: 1 to 2hrs of recovery under the standard condition after the removal from the test chamber.
28. High temperature life test
CAL45 Type
Appearance : No abnormality
Specified Value
LHL□□□
Inductance change : Within ±10%
Q change : Within ±30% (LHLP : only △L/L)
FBA/FBR
LHL□□□ :
Test Methods and
Remarks
Temperature
Duration
Recovery
: 105±2℃
: 1000＋48/-0 hrs
: 1 to 2hrs of recovery under the standard condition after the removal from the test chamber.
? This catalog contains the typical specification only due to the limitation of space. When you consider the purchase of our products, please check our specification.
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| AD5761ACPZ-RL7 | 功能描述:IC DAC 16BIT 1CH 8LSB 16LFCSP 制造商:analog devices inc. 系列:- 零件状态:在售 位数:16 数模转换器数:1 建立时间:12.5μs 输出类型:Voltage - Buffered 差分输出:无 数据接口:SPI 参考类型:外部 电压 - 电源，模拟:4.5 V ~ 30 V， -16.5V 电压 - 电源，数字:1.7 V ~ 5.5 V INL/DNL（LSB）:±8（最大），±1（最大） 架构:R-2R 工作温度:-40°C ~ 125°C 标准包装:1 |
| AD5761ARUZ | 功能描述:16 Bit Digital to Analog Converter 1 16-TSSOP 制造商:analog devices inc. 系列:- 包装:管件 零件状态:有效 位数:16 数模转换器数:1 建立时间:12.5μs 输出类型:Voltage - Buffered 差分输出:无 数据接口:SPI 参考类型:外部 电压 - 电源，模拟:4.5 V ~ 30 V， -16.5V 电压 - 电源，数字:1.7 V ~ 5.5 V INL/DNL（LSB）:±8（最大），±1（最大） 架构:R-2R 工作温度:-40°C ~ 125°C 封装/外壳:16-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） 供应商器件封装:16-TSSOP 标准包装:96 |
| AD5761ARUZ-RL7 | 功能描述:16 Bit Digital to Analog Converter 1 16-TSSOP 制造商:analog devices inc. 系列:- 包装:带卷（TR） 零件状态:有效 位数:16 数模转换器数:1 建立时间:12.5μs 输出类型:Voltage - Buffered 差分输出:无 数据接口:SPI 参考类型:外部 电压 - 电源，模拟:4.5 V ~ 30 V， -16.5V 电压 - 电源，数字:1.7 V ~ 5.5 V INL/DNL（LSB）:±8（最大），±1（最大） 架构:R-2R 工作温度:-40°C ~ 125°C 封装/外壳:16-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） 供应商器件封装:16-TSSOP 标准包装:1,000 |
| AD5761BCPZ-RL7 | 功能描述:16 Bit Digital to Analog Converter 1 16-LFCSP-WQ (3x3) 制造商:analog devices inc. 系列:- 包装:带卷（TR） 零件状态:有效 位数:16 数模转换器数:1 建立时间:12.5μs 输出类型:Voltage - Buffered 差分输出:无 数据接口:SPI 参考类型:外部 电压 - 电源，模拟:4.5 V ~ 30 V， -16.5V 电压 - 电源，数字:1.7 V ~ 5.5 V INL/DNL（LSB）:±2（最大），±1（最大） 架构:R-2R 工作温度:-40°C ~ 125°C 封装/外壳:16-WFQFN 裸露焊盘，CSP 供应商器件封装:16-LFCSP-WQ（3x3） 标准包装:1,500 |
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