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74ABT20DB-T

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  • 功能描述
  • 逻辑门 DUAL 4-INPUT NAND GATE
  • RoHS
  • 制造商
  • Texas Instruments
  • 产品
  • OR
  • 逻辑系列
  • LVC
  • 栅极数量
  • 2
  • 线路数量(输入/输出)
  • 2 / 1
  • 高电平输出电流
  • - 16 mA
  • 低电平输出电流
  • 16 mA
  • 传播延迟时间
  • 3.8 ns
  • 电源电压-最大
  • 5.5 V
  • 电源电压-最小
  • 1.65 V
  • 最大工作温度
  • + 125 C
  • 安装风格
  • SMD/SMT
  • 封装 / 箱体
  • DCU-8
  • 封装
  • Reel
74ABT20DB-T 技术参数
  • 74ABT20DB,118 功能描述:逻辑门 DUAL 4-INPUT NAND RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量(输入/输出):2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel 74ABT20DB,112 功能描述:逻辑门 DUAL 4-INPUT NAND RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量(输入/输出):2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel 74ABT20D,118 功能描述:逻辑门 DUAL 4-INPUT NAND RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量(输入/输出):2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel 74ABT20D,112 功能描述:逻辑门 DUAL 4-INPUT NAND RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量(输入/输出):2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel 74ABT18640DGGRG4 功能描述:特定功能逻辑 Scan Test Devices RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品: 系列:SN74ABTH18502A 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:LQFP-64 封装:Tube 74ABT2240CSJX 74ABT2240D,112 74ABT2240D,118 74ABT2240N,112 74ABT2240PW,112 74ABT2240PW,118 74ABT2241D,112 74ABT2241D,118 74ABT2241DB,112 74ABT2241DB,118 74ABT2241N,112 74ABT2241PW,112 74ABT2241PW,118 74ABT2244CMSA 74ABT2244CMSAX 74ABT2244CMTC 74ABT2244CMTCX 74ABT2244CPC
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