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参数资料
| 型号： | IDT82V3002APV |
| 厂商： | INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY INC |
| 元件分类： | 通信及网络 |
| 英文描述： | WAN PLL WITH DUAL REFERENCE INPUTS |
| 中文描述： | SPECIALTY TELECOM CIRCUIT, PDSO56 |
| 封装： | SSOP-56 |
| 文件页数： | 9/28页 |
| 文件大小： | 390K |
| 代理商： | IDT82V3002APV |
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9
IDT82V3002A WAN PLL WITH DUAL REFERENCE INPUTS INDUSTRIAL TEMPERATURE RANGE
TCK
I
28
Test Clock.
Provides a clock to JTAG test logic.
TMS
I
31
Test Mode Select.
JTAG signal that controls the state transitions of the TAP controller. This pin is internally pulled up to V
DD
.
IC0, IC1, IC2
-
53, 54, 55Internal Connection.
SS
when in normal operation.
IC
-
8, 21, 22,
34, 35, 43
Internal Connection.
Internal Use. These pins should be left open when in normal operation.
Table - 1 Pin Description (Continued)
Name
Type
Pin
Number
Description
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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参数描述 |
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