参数资料
型号: S-80831
厂商: Seiko Instruments Inc.
英文描述: 3.1 V±2.0% Super-Small Package High-Precision Voltage Detector(微型封装,检测范围3.1 V±2.0%,高精度电压检测器)
中文描述: 3.1 V ± 2.0%,超小型封装高精度电压检测器(微型封装,检测范围3.1 V ± 2.0%,高精度电压检测器)
文件页数: 12/36页
文件大小: 308K
代理商: S-80831
SUPER-SMALL PACKAGE HIGH-PRECISION VOLTAGE DETECTOR
S-808 Series
Seiko Instruments Inc.
11
5.
Detection voltage (5.7 V to 6.0 V)
(Unless otherwise specified: Ta=25
°
C)
Parameter
Symbol
Conditions
Min.
Typ.
Max.
Unit
Test
circuit
S-80857AX
5.586
5.700
5.814
Detection voltage
-V
DET
S-80858AX
S-80859AX
5.684
5.782
5.800
5.900
5.916
6.018
V
1
S-80860AX
5.880
-V
DET
×
0.03
6.000
-V
DET
×
0.05
6.120
-V
DET
×
0.08
Hysteresis width
V
HYS
V
1
Current
consumption
Operating voltage
I
SS
V
DD
=7.5V
1.0
3.0
μ
A
2
V
DD
0.95
10.0
V
1
Nch
V
DD
=1.2V
0.23
0.50
V
DS
=0.5V
V
DD
=2.4V
1.60
3.70
3
Output current
I
OUT
Pch(CMOS
output)
V
DS
=0.5V
mA
V
DD
=8.4V
0.59
0.96
4
Leakage current of
output transistor
I
LEAK
Nch(Nch
open drain)
V
DS
=10.0
V
V
DD
=10.0
V
0.1
μ
A
3
Response time
tPLH
60
μ
s
1
S-80857AX
±
0.67
±
0.68
±
2.01
±
2.04
Temperature
-V
DET
Ta
Ta=-40
°
C
to +85
°
C
S-80858AX
mV/
°
C
1
characteristic of
S-80859AX
±
0.69
±
2.07
-V
DET
S-80860AX
±
0.71
±
2.13
Test Circuits
(1)
(2)
R*
100k
V
S-808
Series
OUT
V
DD
V
SS
V
V
DD
S-808
Series
OUT
V
DD
V
SS
A
V
DD
* R is unnecessary for CMOS output products.
(3)
(4)
A
V
S-808
Series
OUT
V
DD
V
SS
V
V
DS
V
DD
A
V
S-808
Series
OUT
V
DD
V
SS
V
V
DS
V
DD
Figure 4
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PDF描述
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