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参数资料
型号： S-80831
厂商： Seiko Instruments Inc.
英文描述： 3.1 V±2.0% Super-Small Package High-Precision Voltage Detector(微型封装，检测范围3.1 V±2.0%，高精度电压检测器)
中文描述： 3.1 V ± 2.0％，超小型封装高精度电压检测器（微型封装，检测范围3.1 V ± 2.0％，高精度电压检测器）
文件页数： 9/36页
文件大小： 308K
代理商： S-80831
SUPER-SMALL PACKAGE HIGH-PRECISION VOLTAGE DETECTOR
S-808 Series
8
Seiko Instruments Inc.
2.
Detection voltage (1.5 V to 2.6 V)
(Unless otherwise specified: Ta=25
°
C)
Parameter
Symbol
Conditions
Min.
Typ.
Max.
Unit
Test
circuit
S-80815AX
1.470
1.500
1.530
S-80816AX
1.568
1.600
1.632
S-80817AX
1.666
1.700
1.734
S-80818AX
1.764
1.800
1.836
S-80819AX
1.862
1.900
1.938
Detection voltage
-V
DET
S-80820AX
S-80821AX
1.960
2.058
2.000
2.100
2.040
2.142
V
1
S-80822AX
2.156
2.200
2.244
S-80823AX
2.254
2.300
2.346
S-80824AX
2.352
2.400
2.448
S-80825AX
2.450
2.500
2.550
S-80826AX
2.548
-V
DET
×
0.03
2.600
-V
DET
×
0.05
2.652
-V
DET
×
0.08
Hysteresis width
V
HYS
V
1
Current
consumption
Operating voltage
I
SS
V
DD
=3.5V
—
0.8
2.4
μ
A
2
V
DD
0.95
—
0.50
10.0
V
1
Nch
V
DD
=1.2V
0.23
—
3
Output current
V
DS
=0.5V
I
OUT
Pch(CMOS
output)
mA
V
DD
=4.8V
0.36
0.62
—
4
V
DS
=0.5V
Nch(Nch
open drain)
Leakage current of
output transistor
I
LEAK
V
DS
=10.0
V
V
DD
=10.0
V
—
—
0.1
μ
A
3
Response time
tPLH
—
—
60
μ
s
1
S-80815AX
—
±
0.18
±
0.54
S-80816AX
—
±
0.19
±
0.57
S-80817AX
—
±
0.20
±
0.60
S-80818AX
—
±
0.21
±
0.63
Temperature
S-80819AX
—
±
0.22
±
0.66
characteristic of
-V
DET
Ta=-40
°
C
S-80820AX
—
±
0.24
±
0.72
mV/
°
C
1
-V
DET
Ta
to +85
°
C
S-80821AX
—
±
0.25
±
0.75
S-80822AX
—
±
0.26
±
0.78
S-80823AX
—
±
0.27
±
0.81
S-80824AX
—
±
0.28
±
0.84
S-80825AX
—
±
0.29
±
0.87
S-80826AX
—
±
0.31
±
0.93
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