参数资料
型号: 0768700004
厂商: Molex Inc
文件页数: 8/17页
文件大小: 0K
描述: QSFP+ ASSEMBLY 2X3 ELASTOMER
应用说明: QSFP+ Stacked Application Spec
视频文件: Molex QSFP FDR AOC with Vitesse retimer demonstration at OFC/NFOEC 2012
特色产品: QSFP and QSFP+ Interconnect Solutions
标准包装: 36
系列: 76870
连接器类型: 带机架的插座,成组(2x3)
连接器类型: QSFP+
位置数: 228(38 x 6)
安装类型: 通孔,直角
端子: 压配式
特点: EMI 屏蔽,光管
触点表面涂层:
触点涂层厚度: 30µin(0.76µm)
包装: 托盘
配套产品: WM1161-ND - CONN CABLE ASSEMBLY QSFP M-M 3M
WM1160-ND - CONN CABLE ASSEMBLY QSFP M-M 1M
其它名称: 076870-0004
WM6172
PRODUCT SPECIFICATION
QSFP+ STACKED CONNECTORS
6.4 TEST GROUP 4
ITEM
1
TEST
Low Level
Contact
TEST PROCEDURE
EIA-364-23; apply a
maximum voltage of 20 mV
CONDITION
Mated
REQUIREMENT
baseline
ACTUAL
N/A
Resistance
and a current of 100 mA.
2
Durability
(precondition)
EIA-364-09; perform plug &
unplug cycles: 20
No evidence of physical
damage
PASS
Temperature
EIA-364-17, method A, Test
3
Life
Condition 3 at 105°±2°C
Mated
None
(precondition)
Low Level
72 hours
EIA-364-23; apply a
4
Contact
maximum voltage of 20 mV
Mated
<10 m
? max
<10 m
? max
Resistance
and a current of 100 mA.
EIA-364-35
5
Mixed Flowing
Gas
class IIA, Option 1A & 1B
test condition VII
See Note
None
14 days
Low Level
EIA-364-23; apply a
6
Contact
maximum voltage of 20 mV
Mated
<10 m
? max
<10 m
? max
Resistance
and a current of 100 mA.
Note:
1. Expose ? of the specimens unmated for 2/3 of the test duration. Mate the specimen to
the same one used during preconditioning temperature life. Expose for the duration of
the test.
2. Characterize porosity & plating thickness before test sequence.
REVISION:
D
ECR/ECN INFORMATION: TITLE:
EC No: UCP2012-2334
DATE: 2012 / 01 / 25
PRODUCT SPECIFICATION
STACKED QSFP+ CONNECTORS
SHEET No.
8 of 17
DOCUMENT NUMBER:
PS-76870-001
CREATED / REVISED BY:
S. BOGIEL/JGONZALEZ
CHECKED BY:
HAVERY
APPROVED BY:
M. BANAKIS
TEMPLATE FILENAME: PRODUCT_SPEC[SIZE_A](V.1).DOC
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PDF描述
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参数描述
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