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参数资料
| 型号： | 25AA640AT-I/MS |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 3/36页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC EEPROM 64KBIT 10MHZ 8MSOP |
| 标准包装： | 1 |
| 格式 - 存储器： | EEPROMs - 串行 |
| 存储器类型： | EEPROM |
| 存储容量： | 64K (8K x 8) |
| 速度： | 10MHz |
| 接口： | SPI 3 线串行 |
| 电源电压： | 1.8 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 8-TSSOP，8-MSOP（0.118"，3.00mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 8-MSOP |
| 包装： | 标准包装 |
| 产品目录页面： | 1449 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称： | 25AA640AT-I/MSDKR |
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25AA640A/25LC640A
TABLE 1-2:
AC CHARACTERISTICS
AC CHARACTERISTICS
Industrial (I): T A = -40°C to +85°C
Automotive (E): T A = -40°C to +125°C
V CC = 1.8V to 5.5V
V CC = 2.5V to 5.5V
Param.
No.
1
Sym.
F CLK
Characteristic
Clock frequency
Min.
—
Max.
10
Units
MHz
Test Conditions
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
—
—
5
3
MHz
MHz
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
2
T CSS
CS setup time
50
100
—
—
ns
ns
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
150
—
ns
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
3
T CSH
CS hold time
100
—
ns
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
200
250
—
—
ns
ns
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
4
5
T CSD
Tsu
CS disable time
Data setup time
50
10
—
—
ns
ns
—
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
20
30
—
—
ns
ns
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
6
T HD
Data hold time
20
—
ns
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
40
50
—
—
ns
ns
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
7
8
9
T R
T F
T HI
CLK rise time
CLK fall time
Clock high time
—
—
50
100
100
—
ns
ns
ns
(Note 1)
(Note 1)
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
100
150
—
—
ns
ns
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
10
T LO
Clock low time
50
—
ns
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
100
150
—
—
ns
ns
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
11
12
13
T CLD
T CLE
T V
Clock delay time
Clock enable time
Output valid from clock
low
50
50
—
—
—
—
50
100
ns
ns
ns
ns
—
—
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
—
160
ns
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
14
15
T HO
T DIS
Output hold time
Output disable time
0
—
—
40
ns
ns
(Note 1)
4.5V ?? Vcc ? 5.5V (Note 1)
—
—
80
160
ns
ns
2.5V ?? Vcc ? 4.5V (Note 1)
1.8V ?? Vcc ? 2.5V (Note 1)
16
T HS
HOLD setup time
20
—
ns
4.5V ?? Vcc ? 5.5V
40
80
—
—
ns
ns
2.5V ?? Vcc ? 4.5V
1.8V ?? Vcc ? 2.5V
Note 1: This parameter is periodically sampled and not 100% tested.
2: This parameter is not tested but ensured by characterization. For endurance estimates in a specific
application, please consult the Total Endurance? Model which can be obtained from Microchip’s web site
at www.microchip.com.
3: T WC begins on the rising edge of CS after a valid write sequence and ends when the internal write cycle
is complete.
? 2003-2012 Microchip Technology Inc.
DS21830E-page 3
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PDF描述 |
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