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参数资料
| 型号： | 74AUP1G74DC,125 |
| 厂商： | NXP Semiconductors |
| 文件页数： | 9/28页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC F-F D-TYPE POS EDGE 8VSSOP |
| 产品培训模块： | Logic Packages |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | 74AUP |
| 功能： | 设置（预设）和复位 |
| 类型： | D 型 |
| 输出类型： | 差分 |
| 元件数： | 1 |
| 每个元件的位元数： | 1 |
| 频率 - 时钟： | 550MHz |
| 延迟时间 - 传输： | 2.2ns |
| 触发器类型： | 正边沿 |
| 输出电流高，低： | 4mA，4mA |
| 电源电压： | 0.8 V ~ 3.6 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 8-VFSOP（0.091"，2.30mm 宽） |
| 包装： | 标准包装 |
| 其它名称： | 568-7721-6 |
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74AUP1G74
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NXP B.V. 2014. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 9 — 6 January 2014
17 of 28
NXP Semiconductors
74AUP1G74
Low-power D-type flip-flop with set and reset; positive-edge trigger
[1]
For measuring enable and disable times RL = 5 k
For measuring propagation delays, setup and hold times and pulse width RL = 1 M.
Test data is given in Table 11.
Definitions for test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to the output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 10. Test circuit for measuring switching times
001aac521
DUT
RT
VI
VO
VEXT
VCC
RL
5 k
Ω
CL
G
Table 11.
Test data
Supply voltage
Load
VEXT
VCC
CL
RL[1]
tPLH, tPHL
tPZH, tPHZ
tPZL, tPLZ
0.8 V to 3.6 V
5 pF, 10 pF, 15 pF and 30 pF
5 k
or 1 M
open
GND
2
V
CC
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
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| 74AUP1G74GD | 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:IC D F-F POS-EDG LOW PWR X |
| 74AUP1G74GD,125 | 功能描述:触发器 Flip Flop D-Type Pos-Edge 1-Elem 8Pin RoHS:否 制造商:Texas Instruments 电路数量:2 逻辑系列:SN74 逻辑类型:D-Type Flip-Flop 极性:Inverting, Non-Inverting 输入类型:CMOS 输出类型: 传播延迟时间:4.4 ns 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 电源电压-最大:5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:X2SON-8 封装:Reel |
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