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参数资料
| 型号： | 74HC273PW,118 |
| 厂商： | NXP Semiconductors |
| 文件页数： | 4/21页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC OCTAL D F-F POS-EDGE 20-TSSOP |
| 产品培训模块： | Logic Packages |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | 74HC |
| 功能： | 主复位 |
| 类型： | D 型总线 |
| 输出类型： | 非反相 |
| 元件数： | 1 |
| 每个元件的位元数： | 8 |
| 频率 - 时钟： | 122MHz |
| 延迟时间 - 传输： | 13ns |
| 触发器类型： | 正边沿 |
| 输出电流高，低： | 5.2mA，5.2mA |
| 电源电压： | 2 V ~ 6 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
74HC_HCT273
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NXP B.V. 2013. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 4 — 10 June 2013
12 of 21
NXP Semiconductors
74HC273; 74HCT273
Octal D-type flip-flop with reset; positive-edge trigger
Test data is given in Table 9.
Definitions for test circuit:
RT = Termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RL = Load resistance.
S1 = Test selection switch
Fig 10. Test circuit for measuring switching times
VM
tW
10 %
90 %
0 V
VI
negative
pulse
positive
pulse
0 V
VM
90 %
10 %
tf
tr
tf
001aad983
DUT
VCC
VI
VO
RT
RL
S1
CL
open
G
Table 9.
Test data
Type
Input
Load
S1 position
VI
tr, tf
CL
RL
tPHL, tPLH
74HC273
VCC
6ns
15pF, 50 pF
1k
open
74HCT273
3V
6ns
15pF, 50 pF
1k
open
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| 74HC273PW-Q100J | 制造商:NXP Semiconductors 功能描述: 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:IC FLIP FLOP OCT D POS 20TSSOP 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:Flip Flops Octal Dtype flipflop positive edgetrigger 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:74HC273PW-Q100/TSSOP20/REEL13/ |
| 74HC273PW-T | 制造商:NXP Semiconductors 功能描述:Flip Flop D-Type Bus Interface Pos-Edge 1-Element 20-Pin TSSOP T/R |
| 74HC273-Q100 | 制造商:PHILIPS 制造商全称:NXP Semiconductors 功能描述:Octal D-type flip-flop with reset; positive-edge trigger |
| 74HC27AP | 制造商:NXP Semiconductors 功能描述: |
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