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参数资料
| 型号： | 74HCT574D,653 |
| 厂商： | NXP Semiconductors |
| 文件页数： | 3/19页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FLIP FLOP OCTAL D 3ST 20SOIC |
| 产品培训模块： | Logic Packages |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | 74HCT |
| 功能： | 标准 |
| 类型： | D 型总线 |
| 输出类型： | 三态非反相 |
| 元件数： | 1 |
| 每个元件的位元数： | 8 |
| 频率 - 时钟： | 69MHz |
| 延迟时间 - 传输： | 18ns |
| 触发器类型： | 正边沿 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 包装： | 标准包装 |
| 产品目录页面： | 837 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称： | 568-1557-6 |
74HC_HCT574
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NXP B.V. 2012. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 5 — 25 April 2012
11 of 19
NXP Semiconductors
74HC574; 74HCT574
Octal D-type flip-flop; positive edge-trigger; 3-state
Test data is given in Table 9.
Definitions test circuit:
RT = Termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RL = Load resistance.
S1 = Test selection switch.
Fig 10. Test circuit for measuring switching times
VM
tW
10 %
90 %
0 V
VI
negative
pulse
positive
pulse
0 V
VM
90 %
10 %
tf
tr
tf
001aad983
DUT
VCC
VI
VO
RT
RL
S1
CL
open
G
Table 9.
Test data
Type
Input
Load
S1 position
VI
tr, tf
CL
RL
tPHL, tPLH
tPZH, tPHZ
tPZL, tPLZ
74HC574
VCC
6ns
15pF, 50 pF
1k
Ω
open
GND
VCC
74HCT574
3 V
6 ns
15 pF, 50 pF
1 k
Ω
open
GND
VCC
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PDF描述 |
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参数描述 |
|---|---|
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| 74HCT574DB,118 | 功能描述:触发器 OCTAL D-TYPE POS EDGE 3-S RoHS:否 制造商:Texas Instruments 电路数量:2 逻辑系列:SN74 逻辑类型:D-Type Flip-Flop 极性:Inverting, Non-Inverting 输入类型:CMOS 输出类型: 传播延迟时间:4.4 ns 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 电源电压-最大:5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:X2SON-8 封装:Reel |
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