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参数资料
| 型号： | 74LCX126BQX |
| 厂商： | Fairchild Semiconductor |
| 文件页数： | 8/9页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC BUFFER QUAD LV N-INV 14DQFN |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | 74LCX |
| 逻辑类型： | 缓冲器/线路驱动器，非反相 |
| 元件数： | 4 |
| 每个元件的位元数： | 1 |
| 输出电流高，低： | 24mA，24mA |
| 电源电压： | 2 V ~ 3.6 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 14-WFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 14-DQFN |
| 包装： | 标准包装 |
| 产品目录页面： | 1210 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称： | 74LCX126BQXDKR |
74LVC1G57
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NXP B.V. 2011. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 6 — 6 December 2011
8 of 20
NXP Semiconductors
74LVC1G57
Low-power configurable multiple function gate
Table 10.
Measurement points
Supply voltage
Input
Output
VCC
VM
VI
VM
1.65 V to 1.95 V
0.5VCC
VCC
0.5VCC
2.3 V to 2.7 V
0.5VCC
VCC
0.5VCC
2.7 V
1.5 V
2.7 V
1.5 V
3.0Vto 3.6V
1.5V
2.7 V
1.5V
4.5 V to 5.5 V
0.5VCC
VCC
0.5VCC
Measurement points are given in Table 11.
Definitions test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 13. Test circuit for measuring switching times
VEXT
VCC
VI
VO
mna616
DUT
CL
RT
RL
G
Table 11.
Measurement points
Supply voltage
Input
Load
VEXT
VCC
VI
tr =tf
CL
RL
tPLH, tPHL
1.65 V to 1.95 V
VCC
2.0ns
30pF
1k
open
2.3Vto 2.7V
VCC
2.0ns
30pF
500
open
2.7V
2.5ns
50pF
500
open
3.0Vto 3.6V
2.7V
2.5ns
50pF
500
open
4.5 V to 5.5 V
VCC
2.5ns
50pF
500
open
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