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参数资料
| 型号： | 9UMS9001AKLFT |
| 厂商： | INTEGRATED DEVICE TECHNOLOGY INC |
| 元件分类： | 时钟产生/分配 |
| 英文描述： | 200 MHz, PROC SPECIFIC CLOCK GENERATOR, PQCC56 |
| 封装： | ROHS COMPLIANT, PLASTIC, MLF-56 |
| 文件页数： | 5/15页 |
| 文件大小： | 105K |
| 代理商： | 9UMS9001AKLFT |
IDT PC MAIN CLOCK - CK540
1247B—07/19/10
Advance Information
9UMS9001
PC MAIN CLOCK - CK540
13
Test Clarification Table
Comments
TEST_SEL
HW PIN
TEST_MODE
HW PIN
TEST
ENTRY BIT
B9b3
REF/N or
HI-Z
B9b4
OUTPUT
<2.0V
X
0
NORMAL
>2.0V
0
X
0
HI-Z
>2.0V
0
X
1
REF/N
>2.0V
1
X
0
REF/N
>2.0V
1
X
1
REF/N
<2.0V
X
1
0
HI-Z
<2.0V
X
1
REF/N
B9b3: 1= ENTER TEST MODE, Default = 0 (NORMAL OPERATION)
B9b4: 1= REF/N, Default = 0 (HI-Z)
HW
SW
Power-up w/ TEST_SEL = 1 to enter test mode
Cycle power to disable test mode
TEST_MODE -->low Vth input
TEST_MODE is a real time input
If TEST_SEL HW pin is 0 during power-up,
test mode can be invoked through B9b3.
If test mode is invoked by B9b3, only B9b4
is used to select HI-Z or REF/N
FSLB/TEST_Mode pin is not used.
Cycle power to disable test mode, one shot control
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PDF描述 |
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