参数资料
| 型号： | A1010B-1PQ100I |
| 厂商： | Microsemi SoC |
| 文件页数： | 49/98页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 1200 GATES 100-PQFP IND |
| 标准包装： | 66 |
| 系列： | ACT™ 1 |
| LAB/CLB数： | 295 |
| 输入/输出数： | 57 |
| 门数： | 1200 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 100-BQFP |
| 供应商设备封装： | 100-PQFP（14x20） |
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Hi R e l F P GA s
A3 22 00 DX Ti m i n g Ch ar ac te r i st i c s (continued)
(Wor s t - C as e M i l i t a r y Cond i t i o n s , V CC = 4.5 V, TJ = 1 25°C)
‘–1’ Speed
‘Std’ Speed
Parameter
Description
Min.
Max.
Min.
Max.
Units
Synchronous SRAM Operations
tRC
Read Cycle Time
8.8
11.8
ns
tWC
Write Cycle Time
8.8
11.8
ns
tRCKHL
Clock High/Low Time
4.4
5.9
ns
tRCO
Data Valid After Clock High/Low
4.4
5.9
ns
tADSU
Address/Data Setup Time
2.1
2.8
ns
tADH
Address/Data Hold Time
0.0
ns
tRENSU
Read Enable Setup
0.8
1.1
ns
tRENH
Read Enable Hold
4.4
5.9
ns
tWENSU
Write Enable Setup
3.5
4.7
ns
tWENH
Write Enable Hold
0.0
ns
tBENS
Block Enable Setup
3.6
4.8
ns
tBENH
Block Enable Hold
0.0
ns
Asynchronous SRAM Operations
tRPD
Asynchronous Access Time
10.6
14.1
ns
tRDADV
Read Address Valid
11.5
15.3
ns
tADSU
Address/Data Setup Time
2.1
2.8
ns
tADH
Address/Data Hold Time
0.0
ns
tRENSUA
Read Enable Setup to Address Valid
0.8
1.1
ns
tRENHA
Read Enable Hold
4.4
5.9
ns
tWENSU
Write Enable Setup
3.5
4.7
ns
tWENH
Write Enable Hold
0.0
ns
tDOH
Data Out Hold Time
1.6
2.1
ns
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PDF描述 |
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参数描述 |
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