参数资料
| 型号： | AD5200BRMZ10 |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 6/15页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC POT DGTL 10K 256POS 10MSOP |
| 标准包装： | 50 |
| 接片： | 256 |
| 电阻（欧姆）： | 10k |
| 电路数： | 1 |
| 温度系数： | 标准值 500 ppm/°C |
| 存储器类型： | 易失 |
| 接口： | 3 线串行（芯片选择） |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 5.5 V，±2.3 V ~ 2.7 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 10-TFSOP，10-MSOP（0.118"，3.00mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 10-MSOP |
| 包装： | 管件 |
| 产品目录页面： | 786 (CN2011-ZH PDF) |
AD5200/AD5201
–14–
TEST CIRCUITS
Figures 6 to 14 define the test conditions used in the product
specification table.
VMS
A
W
B
DUT
V+
V+ = VDD
1 LSB = V+/2N
Figure 6. Potentiometer Divider Nonlinearity Error Test
Circuit (INL, DNL)
VMS
A
W
B
DUT
NO CONNECT
IW
Figure 7. Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
VMS1
A
W
B
DUT
IW = VDD/RNOMINAL
VMS2
VW
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
Figure 8. Wiper Resistance Test Circuit
VMS%
VDD%
PSS (%/%) =
V+ = VDD 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
VMS
VDD
VMS
A
W
B
V+
VDD
VA
Figure 9. Power Supply Sensitivity Test Circuit
(PSS, PSRR)
OP279
W
5V
B
VOUT
OFFSET
GND
OFFSET BIAS
A
DUT
VIN
Figure 10. Inverting Gain Test Circuit
OFFSET BIAS
B
OFFSET
GND
A
DUT
OP279
W
5V
VOUT
VIN
Figure 11. Noninverting Gain Test Circuit
OP42
VOUT
VIN
+15V
OFFSET
GND
–15V
W
B
A
2.5V
Figure 12. Gain vs. Frequency Test Circuit
W
B
VSS TO VDD
DUT
ISW
CODE = OOH
RSW =
0.1V
ISW
0.1V
+
–
Figure 13. Incremental ON Resistance Test Circuit
ICM
A
W
B
NC
GND
NC
VSS
VDD
DUT
VCM
NC = NO CONNECT
Figure 14. Common-Mode Leakage Current Test Circuit
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PDF描述 |
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| AD5200BRMZ50-REEL7 | 功能描述:IC POT DGTL 50K 256POS 10MSOP RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 数据采集 - 数字电位器 系列:- 标准包装:3,000 系列:DPP 接片:32 电阻（欧姆）:10k 电路数:1 温度系数:标准值 300 ppm/°C 存储器类型:非易失 接口:3 线串行（芯片选择，递增，增/减） 电源电压:2.5 V ~ 6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 安装类型:表面贴装 封装/外壳:8-WFDFN 裸露焊盘 供应商设备封装:8-TDFN（2x3） 包装:带卷 (TR) |
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