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参数资料
| 型号： | AD5203ARUZ100-REEL |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 9/12页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC POT DGTL QUAD 64POS 24TSSOP |
| 标准包装： | 2,500 |
| 接片： | 64 |
| 电阻（欧姆）： | 100k |
| 电路数： | 4 |
| 温度系数： | 标准值 700 ppm/°C |
| 存储器类型： | 易失 |
| 接口： | 4 线 SPI（芯片选择） |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 24-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 24-TSSOP |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 其它名称： | AD5203ARUZ100REEL |
AD5203
–6–
REV. 0
–Typical Performance Characteristics
RW
(20mV/DIV)
CS
(5V/DIV)
TIME 500ns/DIV
Figure 11. One Position Step Change
at Half-Scale (Code 1FH to 20H)
OUTPUT
CS
TIME 5 s/DIV
Figure 14. Large Signal Settling Time
0
–50
10
100
1M
1k
10k
100k
–10
–20
–30
–40
GAIN
–
dB
FREQUENCY – Hz
CODE = 3FH
20H
10H
08H
04H
02H
01H
VDD = +5V
TA = +25 C
5dB/DIV
Figure 17. 100 k
Gain vs. Frequency
vs. Code
0
–50
10
100
1M
1k
10k
100k
–10
–20
–30
–40
10M
GAIN
–
dB
FREQUENCY – Hz
TA = +25 C
SEE TEST CIRCUIT FIGURE 32
CODE = 3FH
20H
10H
08H
04H
02H
01H
Figure 12. Gain vs. Frequency for
R = 10 k
FREQUENCY – Hz
THD
+
NOISE
–
%
10
0.001
10
100k
100
1k
10k
1
0.1
FILTER = 22kHz
VDD = +5V
TA = +25 C
RAB = 10k
0.01
SEE TEST CIRCUIT FIGURE 31
SEE TEST CIRCUIT FIGURE 30
Figure 15. Total Harmonic Distortion
Plus Noise vs. Frequency
0
–0.5
10
100
1M
1k
10k
100k
–0.1
–0.2
–0.3
–0.4
NORMALIZED
GAIN
FLATNESS
–
0.1dB/DIV
FREQUENCY – Hz
–0.6
–0.7
–0.8
–0.9
–1.0
VDD = +5V
CODE = 3FH
TA = +25 C
SEE TEST CIRCUIT FIGURE 32
RAB = 10k
RAB = 100k
Figure 18. Normalized Gain Flat-
ness vs. Frequency
HOURS OF OPERATION @ 150 C
R
WB
RESISTANCE
–
%
0.75
–0.75
0
100
600
200
300
400
500
0.5
0.25
0
–0.25
–0.5
VDD = +5V
CODE = 3FH
SS = 77 UNITS
AVG –2
AVG +2
AVG
Figure 13. Long-Term Drift
Accelerated by Burn-In
VOUT
(20mV/DIV)
TIME 100ns/DIV
Figure 16. Digital Feedthrough vs.
Time
10
1
0.1
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
4.5
5
INPUT LOGIC VOLTAGE – Volts
I DD
SUPPLY
CURRENT
–
mA
VDD = +5.0V
VDD = +3.0V
0.01
Figure 19. Supply Current vs. Logic
Input Voltage
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