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参数资料
| 型号： | AD5220BNZ100 |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 9/11页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DGTL POT 128POS 100K SGL 8DIP |
| 标准包装： | 50 |
| 接片： | 128 |
| 电阻（欧姆）： | 100k |
| 电路数： | 1 |
| 温度系数： | 标准值 800 ppm/°C |
| 存储器类型： | 易失 |
| 接口： | 4 线串行（芯片选择，递增，增/减） |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 通孔 |
| 封装/外壳： | 8-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 供应商设备封装： | 8-PDIP |
| 包装： | 管件 |
AD5220
–7–
REV.
V+
DUT
VMS
A
B
W
V+ = VDD
1LSB = V+/128
Figure 27. Potentiometer Divider Nonlinearity Error Test
Circuit (INL, DNL)
NO CONNECT
IW
DUT
VMS
A
B
W
Figure 28. Resistor Position Nonlinearity Error (Rheostat
Operation; R-INL, R-DNL)
VMS2
VW
IW = VDD/RNOMINAL
DUT
VMS1
A
B
W
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
Figure 29. Wiper Resistance Test Circuit
PSRR (dB) = 20 LOG
( ––––– )
PSS (%/%) = –––––––
VMS
VDD
VMS%
VDD%
V+ = VDD ± 10%
VDD
VA
~
V+
VMS
A
B
W
Figure 30. Power Supply Sensitivity Test Circuit (PSS,
PSRR)
~
A
B
VIN
2.5V DC
OP279
+5V
VOUT
DUT
W
OFFSET
GND
Figure 31. Inverting Programmable Gain Test Circuit
~
AB
VIN
2.5V
OP279
+5V
VOUT
DUT
W
OFFSET
GND
Figure 32. Noninverting Programmable Gain Test Circuit
A
B
2.5V
DUT
W
OFFSET
GND
~
VIN
OP42
+15V
VOUT
–15V
Figure 33. Gain vs. Frequency Test Circuit
ISW
0 TO VDD
RSW =
0.1V
ISW
CODE = H
0.1V
DUT
B
W
Figure 34. Incremental ON Resistance Test Circuit
Parametric Test Circuits–
A
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参数描述 |
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