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参数资料
| 型号： | AD5241BR1M |
| 厂商： | ANALOG DEVICES INC |
| 元件分类： | 数字电位计 |
| 英文描述： | Audio digital potentiometers |
| 中文描述： | 1000K DIGITAL POTENTIOMETER, 2-WIRE SERIAL CONTROL INTERFACE, 256 POSITIONS, PDSO14 |
| 封装： | MS-012AB, SOIC-14 |
| 文件页数： | 13/16页 |
| 文件大小： | 394K |
| 代理商： | AD5241BR1M |
REV. B
–13–
AD5241/AD5242
Test Circuits
Test Circuits 1 to 9 define the test conditions used in the product
specifications table.
V
MS
A
W
B
DUT
V
V+ = V
1LSB = V+/2
N
Test Circuit 1. Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
NO CONNECT
I
W
V
MS
A
W
B
DUT
Test Circuit 2. Resistor Position Nonlinearity Error (Rheo-
stat Operation; R-INL, R-DNL)
V
MS1
I
W
= V
DD
/R
NOMINAL
V
MS2
V
W
R
W
= [V
MS1
– V
MS2
]/I
W
A
W
B
DUT
Test Circuit 3. Wiper Resistance
V
MS
%
V
DD
%
PSS (%/%) =
V+ = V
DD
10%
PSRR (dB) = 20 LOG
MS
( )
V
DD
V
A
V
MS
A
W
B
V+
Test Circuit 4. Power Supply Sensitivity (PSS, PSRR)
OP279
W
5V
B
V
OUT
OFFSET
GND
OFFSET
A
DUT
Test Circuit 5. Inverting Gain
B
A
V
IN
OP279
W
5V
V
OUT
OFFSET
GND
OFFSET
BIAS
DUT
Test Circuit 6. Noninverting Gain
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
V
OUT
OFFSET
GND
DUT
OP42
V
IN
Test Circuit 7. Gain vs. Frequency
W
B
V
SS
TO V
DD
DUT
I
SW
CODE =
H
R
SW
=
0.1V
I
SW
0.1V
Test Circuit 8. Incremental ON Resistance
W
B
V
CM
I
CM
A
NC
GND
NC
V
SS
V
DUT
Test Circuit 9. Common-Mode Leakage Current
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