参数资料
| 型号： | AD5246BKS10-R2 |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 3/16页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC POT DGTL 10K 128POS SC70-6 |
| 标准包装： | 1 |
| 接片： | 128 |
| 电阻（欧姆）： | 10k |
| 电路数： | 1 |
| 温度系数： | 标准值 45 ppm/°C |
| 存储器类型： | 易失 |
| 接口： | I²C |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 6-TSSOP，SC-88，SOT-363 |
| 供应商设备封装： | SC-70-6 |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
| 其它名称： | AD5246BKS10-R2CT |
Data Sheet
AD5246
Rev. C | Page 11 of 16
TEST CIRCUITS
Figure 21 to Figure 25 define the test conditions used in the product Specification tables.
IW
VMS
W
B
DUT
03875-004
Figure 21. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
V
MS%
DD%
PSS (%/%) =
V+ = VDD 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
DUT
MS
DD
(
)
VDD
VMS
W
B
V+
V
±
03875-009
Figure 22. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
W
10k
10k
2.5V
B
+15V
–15V
VOUT
OP27
DUT
VIN
03875-010
Figure 23. Test Circuit for Gain vs. Frequency
03875-040
W
B
VDD TO GND
DUT
ISW
CODE = 0x00
RSW =
0.1V
ISW
0.1V
Figure 24. Test Circuit for Incremental On Resistance
W
B
NO CONNECT
ICM
VCM
DUT
03875-012
Figure 25. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
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PDF描述 |
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