参数资料
型号: AD5248BRM100-RL7
厂商: Analog Devices Inc
文件页数: 4/20页
文件大小: 0K
描述: IC DGTL POT DUAL 100K I2C 10MSOP
标准包装: 1,000
接片: 256
电阻(欧姆): 100k
电路数: 2
温度系数: 标准值 35 ppm/°C
存储器类型: 易失
接口: I²C(设备位址)
电源电压: 2.7 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 125°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 10-TFSOP,10-MSOP(0.118",3.00mm 宽)
供应商设备封装: 10-MSOP
包装: 带卷 (TR)
配用: AD5248EVAL-ND - BOARD EVAL FOR AD5248
AD5243/AD5248
Data Sheet
Rev. B | Page 12 of 20
TEST CIRCUITS
Figure 30 through Figure 36 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product specification tables (see Table 1
04109-0-003
VMS
A
W
B
DUT
V+
V+ = VDD
1LSB = V+/2N
Figure 30. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
04109-0-004
NO CONNECT
IW
VMS
A
W
B
DUT
Figure 31. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation: R-INL, R-DNL)
04109-0-005
VMS2
VMS1
VW
A
W
B
DUT
IW = VDD/RNOMINAL
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
Figure 32. Test Circuit for Wiper Resistance
04109-0-006
V
MS%
DUT
(
)
A
W
B
V+
V
DD%
V
MS
V
DD
V
DD
VA
VMS
V+ = VDD ± 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
PSS (%/%) =
Figure 33. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
04109-0-009
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
VOUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
VIN
Figure 34. Test Circuit for Gain vs. Frequency
04109-0-010
W
B
VSS TO VDD
DUT
ISW
CODE = 0x00
RSW =
0.1V
ISW
0.1V
Figure 35. Test Circuit for Incremental On Resistance
W
B
VCM
ICM
A
NC
GND
NC
VDD
DUT
NC = NO CONNECT
04109-0-011
Figure 36. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
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AD5248BRM2.5-RL7 功能描述:IC DGTL POT DUAL 2.5K I2C 10MSOP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 数据采集 - 数字电位器 系列:- 标准包装:3,000 系列:DPP 接片:32 电阻(欧姆):10k 电路数:1 温度系数:标准值 300 ppm/°C 存储器类型:非易失 接口:3 线串行(芯片选择,递增,增/减) 电源电压:2.5 V ~ 6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 安装类型:表面贴装 封装/外壳:8-WFDFN 裸露焊盘 供应商设备封装:8-TDFN(2x3) 包装:带卷 (TR)
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