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参数资料
| 型号： | AD5259BCPZ50-R7 |
| 厂商： | ANALOG DEVICES INC |
| 元件分类： | 数字电位计 |
| 英文描述： | Nonvolatile, I2C-Compatible 256-Position, Digital Potentiometer |
| 中文描述： | 50K DIGITAL POTENTIOMETER, 2-WIRE SERIAL CONTROL INTERFACE, 256 POSITIONS, DSO10 |
| 封装： | 3 X 3 MM, 0.80 MM HEIGHT, LEAD FREE, LFCSP-10 |
| 文件页数： | 13/24页 |
| 文件大小： | 1039K |
| 代理商： | AD5259BCPZ50-R7 |
AD5259
TEST CIRCUITS
Figure 32 through Figure 37 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product Specifications tables.
Rev. A | Page 13 of 24
0
V
MS
A
W
B
DUT
V+
V+ = V
1LSB = V+/2
N
Figure 32. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error (INL, DNL)
0
NO CONNECT
I
W
V
MS
A
W
B
DUT
Figure 33. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
0
V
MS2
V
MS1
V
W
A
W
B
DUT
I
W
= V
DD
/R
NOMINAL
R
W
= [V
MS1
– V
MS2
]/I
W
Figure 34. Test Circuit for Wiper Resistance
0
Δ
V
MS
%
Δ
V
DD
%
DUT
( )
A
W
B
V+
MS
Δ
V
DD
V
A
V
MS
V+ = V
DD
±
10%
PSRR (dB) = 20 LOG
PSS (%/%) =
Figure 35. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
0
+5V
–5V
W
A
+2.5V
B
V
OUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
V
IN
Figure 36. Test Circuit for Gain vs. Frequency
0
W
B
DUT
I
SW
I
SW
R
SW
GND TO V
DD
CODE = 0x00
=
0.1V
0.1V
Figure 37. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
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