参数资料
| 型号： | ADG1223BRMZ |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 5/16页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SWITCH DUAL SPST 10MSOP |
| 产品培训模块： | iCMOS™ Switches and Multiplexers for Data Acquisition Switch Fundamentals |
| 标准包装： | 50 |
| 系列： | iCMOS® |
| 功能： | 开关 |
| 电路： | 2 x SPST - NC/NO |
| 导通状态电阻： | 475 欧姆 |
| 电压电源： | 单/双电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 12V，±15V |
| 电流 - 电源： | 140µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 10-TFSOP，10-MSOP（0.118"，3.00mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 10-MSOP |
| 包装： | 托盘 |
ADG1221/ADG1222/ADG1223
Rev. A | Page 13 of 16
TEST CIRCUITS
IDS
V1
Sx
Dx
VS
RON = V1/IDS
06
57
4-
0
08
Figure 23. Test Circuit 1—On Resistance
Sx
Dx
VS
A
VD
IS (OFF)
ID (OFF)
06
57
4
-00
9
Figure 24. Test Circuit 2—Off Leakage
Sx
Dx
A
VD
ID (ON)
NC
NC = NO CONNECT
06
57
4-
01
0
Figure 25. Test Circuit 3—On Leakage
VS
INx
Sx
Dx
GND
RL
300
CL
35pF
VOUT
VDD
VSS
0.1F
VDD
0.1F
VSS
ADG1222
ADG1221/
ADG1222
ADG1221
VIN
VOUT
tON
tOFF
50%
90%
50%
06
57
4-
0
1
Figure 26. Test Circuit 4—Switching Times
VS2
IN1,
IN2
S2
D2
VS1
S1
D1
GND
RL
300
CL
35pF
VOUT2
VOUT1
VDD
VSS
0.1F
VDD
0.1F
VSS
VIN
VOUT1
VOUT2
ADG1223
tD
50%
90%
0V
RL
300
CL
35pF
0
657
4-
0
12
Figure 27. Test Circuit 5—Break-Before-Make Time Delay
INx
VOUT
ADG1222
ADG1221/
ADG1222
ADG1221
VIN
VOUT
OFF
ΔVOUT
ON
QINJ = CL × ΔVOUT
Sx
Dx
VDD
VSS
VDD
VSS
VS
RS
GND
CL
1nF
065
74
-01
3
Figure 28. Test Circuit 6—Charge Injection
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PDF描述 |
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