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参数资料
| 型号： | ADG1236YCPZ-500RL7 |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 4/16页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SWITCH DUAL SPDT 12LFCSP |
| 产品培训模块： | iCMOS™ Switches and Multiplexers for Data Acquisition Switch Fundamentals |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | iCMOS® |
| 功能： | 开关 |
| 电路： | 2 x SPDT - NC/NO |
| 导通状态电阻： | 475 欧姆 |
| 电压电源： | 单/双电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 12V，±15V |
| 电流 - 电源： | 170µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 12-VFQFN 裸露焊盘，CSP |
| 供应商设备封装： | 12-LFCSP-VQ |
| 包装： | 标准包装 |
| 产品目录页面： | 801 (CN2011-ZH PDF) |
| 其它名称： | ADG1236YCPZ-500RL7DKR |
ADG1236
Rev. 0 | Page 12 of 16
TEST CIRCUITS
IDS
SD
VS
04776-020
V
SD
VS
A
VD
IS (OFF)
ID (OFF)
04776-021
SD
A
VD
ID (ON)
NC
NC = NO CONNECT
04776-022
Figure 20. Test Circuit 1—On Resistance
Figure 21. Test Circuit 2—Off Resistance
Figure 22. Test Circuit 3—On Leakage
04776-023
IN
VOUT
D
SA
VDD
VSS
VDD
VSS
GND
CL
35pF
SB
VIN
VS
0.1
μF
0.1
μF
RL
300
Ω
50%
90%
50%
90%
tON
tOFF
VIN
VOUT
VIN
Figure 23. Test Circuit 4—Switching Times
04776-024
IN
VOUT
D
SA
VDD
VSS
VDD
VSS
GND
CL
35pF
SB
VIN
VS
0.1
μF
0.1
μF
RL
300
Ω
80%
tBBM
VOUT
VIN
Figure 24. Test Circuit 5—Break-Before-Make Time Delay
VIN (NORMALLY
CLOSED SWITCH)
VOUT
VIN (NORMALLY
OPEN SWITCH)
OFF
ΔV
OUT
ON
QINJ = CL ×ΔVOUT
04776-025
IN
VOUT
D
SA
VDD
VSS
VDD
VSS
GND
CL
1nF
NC
SB
VIN
VS
0.1
μF
0.1
μF
Figure 25. Test Circuit 6—Charge Injection
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