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参数资料
| 型号： | ADG433BN |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 7/8页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SWITCH QUAD SPST 16DIP |
| 产品培训模块： | Switch Fundamentals |
| 产品变化通告： | Product Discontinuance 27/Oct/2011 |
| 标准包装： | 25 |
| 系列： | LC²MOS |
| 功能： | 开关 |
| 电路： | 4 x SPST - NC/NO |
| 导通状态电阻： | 42 欧姆 |
| 电压电源： | 单/双电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 12V，±15V |
| 电流 - 电源： | 100pA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 通孔 |
| 封装/外壳： | 16-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 供应商设备封装： | 16-PDIP |
| 包装： | 管件 |
ADG431/ADG432/ADG433
REV. C
–7–
Test Circuits
IDS
V1
SD
VS
RON = V1/IDS
Test Circuit 1. On Resistance
SD
+15V
+5V
0.1 F
VDD
VL
IN
VS
GND
VSS
RL
300
CL
35pF
VOUT
0.1 F
–15V
tON
tOFF
3V
50%
3V
90%
VIN
VOUT
ADG431
ADG432
Test Circuit 4. Switching Times
S1
D1
+15V
+5V
0.1 F
VDD
VL
IN1, IN2
VS1
GND
VSS
RL1
300
CL1
35pF
VOUT1
0.1 F
–15V
VS2
VOUT2
RL2
300
CL2
35pF
S2
VIN
D2
tD
3V
50%
90%
VIN
VOUT1
VOUT2
90%
0V
Test Circuit 5. Break-Before-Make Time Delay
SD
+15V
+5V
VDD
VL
IN
VS
GND
VSS
CL
10nF
VOUT
–15V
RS
3V
VIN
VOUT
QINJ = CL
VOUT
Test Circuit 6. Charge Injection
SD
VS
A
VD
A
IS (OFF)
ID (OFF)
Test Circuit 2. Off Leakage
SD
VS
VD
A
ID (ON)
Test Circuit 3. On Leakage
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PDF描述 |
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