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参数资料
| 型号： | ADG726BSUZ |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 2/12页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MULTIPLEXER DUAL 16X1 48TQFP |
| 产品培训模块： | iCMOS™ Switches and Multiplexers for Data Acquisition Switch Fundamentals |
| 标准包装： | 1 |
| 功能： | 多路复用器 |
| 电路： | 2 x 16:1 |
| 导通状态电阻： | 5.5 欧姆 |
| 电压电源： | 单/双电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 1.8 V ~ 5.5 V，±2.5 V |
| 电流 - 电源： | 10µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 48-TQFP |
| 供应商设备封装： | 48-TQFP（7x7） |
| 包装： | 托盘 |
| 产品目录页面： | 802 (CN2011-ZH PDF) |
REV. 0
ADG726/ADG732
–10–
FREQUENCY – MHz
0
–100
–70
–60
–50
–40
–30
–20
–10
0.03
0.1
1
10
100
–80
–90
VDD = 5V
TA = 25 C
A
TTENU
A
TION
–
dB
TPC 10. OFF Isolation vs. Frequency
FREQUENCY – MHz
A
TTENU
A
TION
–
dB
0.03
0.1
100
110
0
–10
–100
–20
–30
–40
–50
–60
–70
–80
–90
VDD = 3V, 5V
TA = 25 C
TPC 11. Crosstalk vs. Frequency
FREQUENCY – MHz
0
–14
–12
–10
–8
–6
–4
–2
0.03
0.1
1
10
100
VDD = 5V
TA = 25 C
ADG732
ADG726
A
TTENU
A
TION
–
dB
TPC 12. ON Response vs. Frequency
IDS
V1
SD
VS
RON = V1 /IDS
Test Circuit 1. On Resistance
S1
D
VS
GND
A
VS
S2
S32
EN
LOGIC “1”
VDD
VSS
VDD
VSS
IS(OFF)
VD
Test Circuit 2. IS (OFF)
S1
D
VS
GND
A
VD
S2
S32
EN
LOGIC “1”
VDD
VSS
VDD
VSS
ID(OFF)
Test Circuit 3. ID (OFF)
D
VS
GND
A
VD
S1
S32
EN
VDD
VSS
VDD
VSS
ID(ON)
LOGIC “ 0”
Test Circuit 4. ID (ON)
Test Circuits
ADDRESS
DRIVE (VIN)
0V
3V
VOUT
VS1
VS32
tTRANSITION
50%
90%
50%
90%
VSS
VDD
50
VIN
A4
A0
ADG732*
S2 THRU S31
S1
S32
D
EN
VS1
VOUT
RL
300
CL
35pF
CS GND WR
*SIMILAR CONNECTION FOR ADG726
VS32
Test Circuit 5. Switching Time of Multiplexer, tTRANSITION
3V
ADDRESS
DRIVE (VIN)
0V
VS
VOUT
tOPEN
80%
VSS
VDD
50
VIN
A4
A0
ADG732*
S2 THRU S31
S1
S32
D
EN
VS
VOUT
RL
300
CL
35pF
CS GND WR
*SIMILAR CONNECTION FOR ADG726
Test Circuit 6. Break-Before-Make Delay, tOPEN
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PDF描述 |
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参数描述 |
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