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参数资料
型号： AGLN015V5-QNG68I
厂商： Microsemi SoC
文件页数： 7/150页
文件大小： 0K
描述： IC FPGA NANO 1KB 15K 68-QFN
标准包装： 260
系列： IGLOO nano
逻辑元件/单元数： 384
输入/输出数： 49
门数： 15000
电源电压： 1.425 V ~ 1.575 V
安装类型： 表面贴装
工作温度： -40°C ~ 85°C
封装/外壳： 68-VFQFN 裸露焊盘
供应商设备封装： 68-QFN（8x8）
JTAG 1532 Characteristics
JTAG timing delays do not include JTAG I/Os. To obtain complete JTAG timing, add I/O buffer delays to
the corresponding standard selected; refer to the I/O timing characteristics in the "User I/O
Characteristics" section on page 2-15 for more details.
Timing Characteristics
1.5 V DC Core Voltage
1.2 V DC Core Voltage
Table 2-110 JTAG 1532
Commercial-Case Conditions: TJ = 70°C, Worst-Case VCC = 1.425 V
Parameter
Description
Std.
Units
tDISU
Test Data Input Setup Time
1.00
ns
tDIHD
Test Data Input Hold Time
2.00
ns
tTMSSU
Test Mode Select Setup Time
1.00
ns
tTMDHD
Test Mode Select Hold Time
2.00
ns
tTCK2Q
Clock to Q (data out)
8.00
ns
tRSTB2Q
Reset to Q (data out)
25.00
ns
FTCKMAX
TCK Maximum Frequency
15
MHz
tTRSTREM
ResetB Removal Time
0.58
ns
tTRSTREC
ResetB Recovery Time
0.00
ns
tTRSTMPW
ResetB Minimum Pulse
TBD
ns
Note: For specific junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-6 on page 2-6 for derating values.
Table 2-111 JTAG 1532
Commercial-Case Conditions: TJ = 70°C, Worst-Case VCC = 1.14 V
Parameter
Description
Std.
Units
tDISU
Test Data Input Setup Time
1.50
ns
tDIHD
Test Data Input Hold Time
3.00
ns
tTMSSU
Test Mode Select Setup Time
1.50
ns
tTMDHD
Test Mode Select Hold Time
3.00
ns
tTCK2Q
Clock to Q (data out)
11.00
ns
tRSTB2Q
Reset to Q (data out)
30.00
ns
FTCKMAX
TCK Maximum Frequency
9.00
MHz
tTRSTREM
ResetB Removal Time
1.18
ns
tTRSTREC
ResetB Recovery Time
0.00
ns
tTRSTMPW
ResetB Minimum Pulse
TBD
ns
Note: For specific junction temperature and voltage supply levels, refer to Table 2-6 on page 2-6 for derating values.
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