参数资料
| 型号： | AT27C512R-70PU |
| 厂商： | Atmel |
| 文件页数： | 5/13页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC OTP 512KBIT 70NS 28DIP |
| 标准包装： | 14 |
| 格式 - 存储器： | EPROMs |
| 存储器类型： | EPROM OTP |
| 存储容量： | 512K (64K x 8) |
| 速度： | 70ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 28-DIP（0.600"，15.24mm） |
| 供应商设备封装： | 28-PDIP |
| 包装： | 管件 |
| 产品目录页面： | 1457 (CN2011-ZH PDF) |
Atmel AT27C512R
Figure 5-1.
AC waveforms for read operation (1)
Notes:
1. Timing measurement reference level is 1.5V for -45 devices. Input AC drive levels are V IL = 0.0V and V IH = 3.0V. Timing
measurement reference levels for all other speed grades are V OL = 0.8V and V OH = 2.0V. Input AC drive levels are
V IL = 0.45V and V IH = 2.4V.
2. OE /V PP may be delayed up to t CE - t OE after the falling edge of CE without impact on t CE .
3. OE /V PP may be delayed up to t ACC - t OE after the address is valid without impact on t ACC .
4. This parameter is only sampled, and is not 100% tested.
5. Output float is defined as the point when data is no longer driven.
Figure 5-2.
Input test waveforms and measurement levels
For -45 devices only:
t R , t F < 5ns (10% to 90%)
For -70 devices:
t R , t F < 20ns (10% to 90%)
Figure 5-3.
Output test load
5
0015P–EPROM–10/11
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| AT27C512R-70RU | 功能描述:可擦除可编程ROM 512Kb (64Kx8) OTP 5V 70ns RoHS:否 制造商:Maxim Integrated 类型: 存储容量:1024 bit 组织:1 K x 1 接口类型: 工作电流:5 uA 编程电压: 工作电源电压:2.8 V to 6 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:Through Hole 封装 / 箱体:TO-92 |
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