参数资料
| 型号： | AT28C17E-15PI |
| 厂商： | Atmel |
| 文件页数： | 5/12页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC EEPROM 16KBIT 150NS 28DIP |
| 标准包装： | 14 |
| 格式 - 存储器： | EEPROMs - 并行 |
| 存储器类型： | EEPROM |
| 存储容量： | 16K (2K x 8) |
| 速度： | 150ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 28-DIP（0.600"，15.24mm） |
| 供应商设备封装： | 28-PDIP |
| 包装： | 管件 |
| 其它名称： | AT28C17E15PI |
AT28C17
AC Read Characteristics
AT28C17-15
Symbol
t ACC
Parameter
Address to Output Delay
Min
Max
150
Units
ns
t CE
(1)
CE to Output Delay
150
ns
t OE
(2)
OE to Output Delay
10
70
ns
t DF(3)(4)
t OH
CE or OE High to Output Float
Output Hold from OE, CE or Address, whichever occurred first
0
0
50
ns
ns
AC Read Waveforms (1)(2)(3)(4)
Notes:
1. CE may be delayed up to t ACC - t CE after the address transition without impact on t ACC .
2. OE may be delayed up to t CE - t OE after the falling edge of CE without impact on t CE or by t ACC - t OE after an address change
without impact on t ACC .
3. t DF is specified from OE or CE whichever occurs first (C L = 5 pF).
4. This parameter is characterized and is not 100% tested.
Input Test Waveforms and
Measurement Level
t R , t F < 20 ns
Pin Capacitance
f = 1 MHz, T = 25°C (1)
Output Test Load
Symbol
C IN
C OUT
Typ
4
8
Max
6
12
Units
pF
pF
Conditions
V IN = 0V
V OUT = 0V
Note:
1. This parameter is characterized and is not 100% tested.
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相关PDF资料 |
PDF描述 |
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参数描述 |
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