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参数资料
| 型号： | AT91SAM9XE-EK |
| 厂商： | Atmel |
| 文件页数： | 21/34页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | KIT EVAL FOR AT91SAM9XE |
| 产品培训模块： | MCU Product Line Introduction |
| 标准包装： | 1 |
| 类型： | MCU |
| 适用于相关产品： | AT91SAM9XE |
| 所含物品： | 评估板，带适配器的电源，线缆以及软件 |
| 产品目录页面： | 610 (CN2011-ZH PDF) |
| 相关产品： | AT91SAM9XE512-QU-ND - MCU ARM9 512K FLASH 208-PQFP AT91SAM9XE512-CU-ND - MCU ARM9 512K FLASH 217-BGA AT91SAM9XE256-QU-ND - MCU ARM9 256K FLASH 208-PQFP AT91SAM9XE256-CU-ND - MCU ARM9 256K FLASH 217-BGA AT91SAM9XE128-QU-ND - MCU ARM9 128K FLASH 208-PQFP AT91SAM9XE128-CU-ND - MCU ARM9 128K FLASH 217-BGA |
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4.2
JTAG/ICE
Table 4-2. JTAG/ICE Configuration
4.3
Designation
S1
S2
S3
R13
R14
Microcontroller Clock
Default Setting
Opened
Opened
Opened
Soldered
Soldered
Feature
Disables the ICE NTRST input
Selects ICE mode or JTAG mode
Disables TCK <-> RTCK local loop. If S3 is closed, R13 must be
unsoldered.
Enables the ICE RTCK return. S3 must be opened
Enables the ICE NRST input
Table 4-3. Microcontroller Clock Configuration
4.4
Designation
R18/R20
S4
J9
Memory Configuration
Default Setting
Soldered
Opened
Feature
Enables the use of 18.432MHz crystal. If an external clock is used,
R18/R20 must be unsoldered and S4 closed.
Table 4-4. Memory Configuration
Designation
SDRAM
R31
R32
NAND Flash (MN6x)
R34
S6
Default Setting
Soldered
Soldered
Soldered
Opened
Feature
Enables MN7 Chip select access
Enables MN8 Chip select access
Enables the use of Ready Busy signal
Disables write protection.
SERIAL DATAFLASH (MN9)
S5
Opened
Disables the write protection.
TWI SERIAL EEPROM (MN10)
4-2
6311A–ATARM–04-Feb-08
R46
R47
Soldered
Soldered
Enables SCL access
Enables SDA access
AT91SAM9XE-EK Evaluation Board User Guide
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| AT91SAM-ICE | 功能描述:仿真器/模拟器 JTAG emulator AT91 ARM7/ARM9 RoHS:否 制造商:Blackhawk 产品:System Trace Emulators 工具用于评估:C6000, C5000, C2000, OMAP, DAVINCI, SITARA, TMS470, TMS570, ARM 7/9, ARM Cortex A8/R4/M3 用于:XDS560v2 |
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