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参数资料
型号： ATMEGA325PV-10MUR
厂商： Atmel
文件页数： 154/364页
文件大小： 0K
描述： MCU AVR 32K FLASH 10MHZ 64QFN
产品培训模块： megaAVR Introduction
标准包装： 4,000
系列： AVR® ATmega
核心处理器： AVR
芯体尺寸： 8-位
速度： 10MHz
连通性： SPI，UART/USART，USI
外围设备： 欠压检测/复位，POR，PWM，WDT
输入/输出数： 54
程序存储器容量： 32KB（16K x 16）
程序存储器类型： 闪存
EEPROM 大小： 1K x 8
RAM 容量： 2K x 8
电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： 1.8 V ~ 5.5 V
数据转换器： A/D 8x10b
振荡器型： 内部
工作温度： -40°C ~ 85°C
封装/外壳： 64-VFQFN 裸露焊盘
包装： 带卷 (TR)
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237
8023F–AVR–07/09
ATmega325P/3250P
23.5.5
Scanning the ADC
Figure 23-8 shows a block diagram of the ADC with all relevant control and observe signals. The
Boundary-scan cell from Figure 23-4 is attached to each of these signals. The ADC need not be
used for pure connectivity testing, since all analog inputs are shared with a digital port pin as
well.
Figure 23-8. Analog to Digital Converter
The signals are described briefly in Table 23-4.
Table 23-3.
Boundary-scan Signals for the Analog Comparator
Signal
Name
Direction as
Seen from the
Comparator
Description
Recommended
Input when Not
in Use
Output Values when
Recommended Inputs
are Used
AC_IDLE
input
Turns off Analog
Comparator when
true
1
Depends upon C code
being executed
ACO
output
Analog Comparator
Output
Will become input
to C code being
executed
0
ACME
input
Uses output signal
from ADC mux when
true
0
Depends upon C code
being executed
ACBG
input
Bandgap Reference
enable
0
Depends upon C code
being executed
10-bit DAC
+
-
AREF
PRECH
DACOUT
COMP
MUXEN_7
ADC_7
MUXEN_6
ADC_6
MUXEN_5
ADC_5
MUXEN_4
ADC_4
MUXEN_3
ADC_3
MUXEN_2
ADC_2
MUXEN_1
ADC_1
MUXEN_0
ADC_0
NEGSEL_2
ADC_2
NEGSEL_1
ADC_1
NEGSEL_0
ADC_0
EXTCH
+
-
1x
ST
ACLK
AMPEN
1.11V
ref
IREFEN
AREF
VCCREN
DAC_9..0
ADCEN
HOLD
PRECH
GNDEN
PASSEN
COMP
SCTEST
ADCBGEN
To Comparator
1.22V
ref
ACTEN
AREF
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PDF描述
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参数描述
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ATMEGA325V-8AUR 功能描述:8位微控制器 -MCU AVR 32K FLSH 2K SRAM 1KB EE-8MHz IND RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT
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