参数资料
型号: BAW74
厂商: Fairchild Semiconductor
文件页数: 1/2页
文件大小: 58K
描述: DIODE HI COND 50V 200MA SOT-23
产品变化通告: Mold Compound Change 12/Dec/2007
标准包装: 3,000
电压 - 在 If 时为正向 (Vf)(最大): 1V @ 100mA
电流 - 在 Vr 时反向漏电: 100µA @ 50V
电流 - 平均整流 (Io)(每个二极管): 200mA
电压 - (Vr)(最大): 50V
反向恢复时间(trr): 4ns
二极管类型: 标准
速度: 小信号 =< 200mA(Io),任意速度
二极管配置: 1 对共阳极
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: TO-236-3,SC-59,SOT-23-3
供应商设备封装: SOT-23-3(TO-236)
包装: 带卷 (TR)
BAW74
?2002 Fairchild Semiconductor Corporation
BAW74, Rev. A
BAW74
Small Signal Diode
*These ratings are limiting values above which the serviceability of any semiconductor device may be impaired.
NOTES:
1) These ratings are based on a maximum junction temperature of 150 degrees C.
2) These are steady state limits. The factory should be consulted on applications involving pulsed or low duty cycle operations.
3
1
2
SOT-23
1
2
3
JD
Absolute Maximum Ratings*
TA
= 25°C unless otherwise noted
Symbol
Parameter
Value
Units
VRRM
Maximum Repetitive Reverse Voltage 50 V
IF(AV)
Average Rectified Forward Current 200 mA
IFSM
Non-repetitive Peak Forward Surge Current
Pulse Width = 1.0 second
Pulse Width = 1.0 microsecond
1.0
2.0
A
A
Tstg
Storage Temperature Range -55 to +150
°C
TJ
Operating Junction Temperature 150
°C
Thermal Characteristics
Electrical Characteristics
TA
= 25°C unless otherwise noted
Symbol
Parameter
Value
Units
PD
Power Dissipation 350 mW
RθJA
Thermal Resistance, Junction to Ambient 357
°C/W
Symbol
Parameter
Test Conditions
Min
Max
Units
VR
Breakdown Voltage
IR = 100 μA
50
V
VF* Forward Voltage
IF = 100 mA 1.0
V
IR* Reverse Current
VR = 50 V, TA = 150°C
100
μA
CT
Total Capacitance
VR = 0, f = 1.0 MHz
2.0 pF
trr
Reverse Recovery Time IF = IR = 10 mA, IRR = 1.0 mA,
RL = 100 ?
4.0 ns
*Pulse test : Pulse width=300us, Duty Cycle=2%
12
3
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