参数资料
型号: CAT24C164YI-GT3
厂商: ON Semiconductor
文件页数: 3/14页
文件大小: 0K
描述: IC EEPROM SERIAL 16KB I2C 8TSSOP
标准包装: 3,000
格式 - 存储器: EEPROMs - 串行
存储器类型: EEPROM
存储容量: 16K (2K x 8)
速度: 400kHz
接口: I²C,2 线串口
电源电压: 1.8 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 8-TSSOP(0.173",4.40mm 宽)
供应商设备封装: 8-TSSOP
包装: 带卷 (TR)
CAT24C164
Table 5. A.C. CHARACTERISTICS (V CC = 1.8 V to 5.5 V, T A = ? 40 ° C to +85 ° C.) (Note 6)
Standard
Fast
Symbol
Parameter
Min
Max
Min
Max
Units
F SCL
t HD:STA
t LOW
t HIGH
t SU:STA
t HD:DAT
t SU:DAT
t R
t F (Note 7)
t SU:STO
t BUF
t AA
t DH
T i (Note 7)
t SU:WP
t HD:WP
t WR
t PU (Notes 7, 8)
Clock Frequency
START Condition Hold Time
Low Period of SCL Clock
High Period of SCL Clock
START Condition Setup Time
Data In Hold Time
Data In Setup Time
SDA and SCL Rise Time
SDA and SCL Fall Time
STOP Condition Setup Time
Bus Free Time Between STOP and START
SCL Low to Data Out Valid
Data Out Hold Time
Noise Pulse Filtered at SCL and SDA Inputs
WP Setup Time
WP Hold Time
Write Cycle Time
Power-up to Ready Mode
4
4.7
4
4.7
0
250
4
4.7
100
0
2.5
100
1000
300
3.5
100
5
1
0.6
1.3
0.6
0.6
0
100
0.6
1.3
100
0
2.5
400
300
300
0.9
100
5
1
kHz
m s
m s
m s
m s
m s
ns
ns
ns
m s
m s
m s
ns
ns
m s
m s
ms
ms
6.
7.
8.
Test conditions according to “A.C. Test Conditions” table.
Tested initially and after a design or process change that affects this parameter.
t PU is the delay between the time V CC is stable and the device is ready to accept commands.
Table 6. A.C. TEST CONDITIONS
Input Levels
Input Rise and Fall Times
Input Reference Levels
Output Reference Levels
Output Load
0.2 x V CC to 0.8 x V CC
≤ 50 ns
0.3 x V CC , 0.7 x V CC
0.5 x V CC
Current Source: I OL = 3 mA (V CC ≥ 2.5 V); I OL = 1 mA (V CC < 2.5 V); C L = 100 pF
http://onsemi.com
3
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