参数资料
| 型号： | CAT24C32YI-GT3 |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 4/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC EEPROM 32KBIT 400KHZ 8TSSOP |
| 标准包装： | 1 |
| 格式 - 存储器： | EEPROMs - 串行 |
| 存储器类型： | EEPROM |
| 存储容量： | 32K (4K x 8) |
| 速度： | 400kHz |
| 接口： | I²C，2 线串口 |
| 电源电压： | 1.7 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 封装/外壳： | 8-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 8-TSSOP |
| 包装： | 标准包装 |
| 其它名称： | CAT24C32YI-GT3DKR CAT24C32YI-GT3DKR-ND CAT24C32YI-GT3OSDKR |
CAT24C32
Table 5. A.C. CHARACTERISTICS
(V CC = 1.8 V to 5. 5 V, T A = ? 40 ° C to +125 ° C and V CC = 1.7 V to 5.5 V, T A = ? 40 ° C to +85 ° C.) (Note 6)
Standard
V CC = 1.7 V ? 5.5 V
Fast
V CC = 1.7 V ? 5.5 V
Fast ? Plus (Note 9)
V CC = 2.5 V ? 5.5 V
T A = ? 40 5 C to +85 5 C
Symbol
Parameter
Min
Max
Min
Max
Min
Max
Units
F SCL
t HD:STA
t LOW
t HIGH
t SU:STA
t HD:DAT
t SU:DAT
t R (Note 7)
t F (Note 7)
t SU:STO
t BUF
t AA
t DH
T i (Note 7)
t SU:WP
t HD:WP
t WR
Clock Frequency
START Condition Hold Time
Low Period of SCL Clock
High Period of SCL Clock
START Condition Setup Time
Data In Hold Time
Data In Setup Time
SDA and SCL Rise Time
SDA and SCL Fall Time
STOP Condition Setup Time
Bus Free Time Between STOP
and START
SCL Low to Data Out Valid
Data Out Hold Time
Noise Pulse Filtered at SCL and
SDA Inputs
WP Setup Time
WP Hold Time
Write Cycle Time
4
4.7
4
4.7
0
250
4
4.7
100
0
2.5
100
1,000
300
3.5
100
5
0.6
1.3
0.6
0.6
0
100
0.6
1.3
100
0
2.5
400
300
300
0.9
100
5
0.25
0.45
0.40
0.25
0
50
0.25
0.5
50
0
1
1,000
100
100
0.40
100
5
kHz
m s
m s
m s
m s
m s
ns
ns
ns
m s
m s
m s
ns
ns
m s
m s
ms
t PU (Notes 7, 8)
Power ? up to Ready Mode
1
1
0.1
1
ms
6.
7.
8.
9.
Test conditions according to “A.C. Test Conditions” table.
Tested initially and after a design or process change that affects this parameter.
t PU is the delay between the time V CC is stable and the device is ready to accept commands.
Fast ? Plus (1 MHz) speed class available for product revision “F”. The die revision “F” is identified by letter “F” or a dedicated marking code
on top of the package.
Table 6. A.C. TEST CONDITIONS
Input Drive Levels
Input Rise and Fall Time
Input Reference Levels
Output Reference Level
Output Test Load
0.2 x V CC to 0.8 x V CC
≤ 50 ns
0.3 x V CC , 0.7 x V CC
0.5 x V CC
Current Source I OL = 3 mA (V CC ≥ 2.5 V); I OL = 1 mA (V CC < 2.5 V); C L = 100 pF
http://onsemi.com
4
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PDF描述 |
|---|---|
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| 8655MH3711LF | BACKSHELL DB37 STR METAL SHLD |
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| EEC40DTEH | CONN EDGECARD 80POS .100 EYELET |
| 980-2000-347 | BACKSHELL EMI DB25 DIE CAST ZINC |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| CAT24C32YI-GT3JN | 功能描述:电可擦除可编程只读存储器 32KB I2C SER 电可擦除可编程只读存储器 RoHS:否 制造商:Atmel 存储容量:2 Kbit 组织:256 B x 8 数据保留:100 yr 最大时钟频率:1000 KHz 最大工作电流:6 uA 工作电源电压:1.7 V to 5.5 V 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOIC-8 |
| CAT24C32ZD2GI | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述: 制造商:Catalyst Semiconductor 功能描述: |
| CAT24C32ZD2GI-T2 | 制造商:Rochester Electronics LLC 功能描述: 制造商:Catalyst Semiconductor 功能描述: |
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| CAT24C32ZGI | 制造商:Catalyst Semiconductor 功能描述: |
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