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参数资料
| 型号： | CB2518T2R2M |
| 厂商： | Electronic Theatre Controls, Inc. |
| 英文描述： | WOUND CHIP INDUCTORS |
| 中文描述： | 绕线型片式电感 |
| 文件页数： | 14/16页 |
| 文件大小： | 781K |
| 代理商： | CB2518T2R2M |
209
F
5
RELIABILITY DATA
7/8
LEM
Y
LB
Y
LBC
Y
CB
Y
CBC
Y
CBL
Temperature
60
M
2
C
f
Excluding nH range
g
Humidity
90
V
95
L
RH
Duration
1000 hrs
Applied current
Rated current
Recovery
At least 1 hr of recovery the stan-
dard condition after the removal
from test chamber, followed by
measurement within 2 hrs.
LEM
Y
CB
Y
CBC
Y
CBL
Temperature
85
M
2
C
Duration
1000 hrs
Recovery
At least 1 hr of recovery the stan-
dard condition after the removal
from test chamber, followed by
measurement within 2 hrs.
LB
Y
LBC
Temperature
85
M
2
C
f
Excluding nH range
g
Duration
1000 hrs
Applied current
Rated current
Recovery
At least 1 hr of recovery the stan-
dard condition after the removal
from test chamber, followed by
measurement within 2 hrs.
Item
Specified Value
Test Methods and Remarks
20.Loading under
damp heat
21.High temperaturte
life test
22.Loading at high
temperature
L/L
Within
M
5
L
L/L
within
0.5nH
under 8.2
H
Q/Q
within
M
20
L
Q/Q
within
M
5 under
8.2
H
L/L
Within
M
10
L
Q
R12
V
4R7
30min.
5R6
V
330
25min.
390
V
820
20min.
101
15min.
L/L
Within
M
10
L
L/L
Within
M
10
L
Q
10N
10min.
12N
V
33N
15min.
39N
V
R10
20min.
R12
V
4R7
30min.
5R6
V
330
25min.
390
V
820
20min.
101
15min.
L/L
Within
M
10
L
L/L
Within
M
5
L
L/L
within
M
0.5nH
under
8.2
H
Q/Q
Within
M
20
L
Q/Q
within
M
0.5
under 8.2
H
L/L
Within
M
10
L
LEM2520
LBH1608
LB2518
LB2016
LB2012
LB1608
LBC2518
LBC2016
LBC2012
CB2518
CB2016
CB2012
CBC3225
CBC2518
CBC2016
CBC2012
CBL2012
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