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参数资料
| 型号： | CBT3306D |
| 厂商： | NXP Semiconductors N.V. |
| 元件分类： | 开关 |
| 英文描述： | Dual bus switch |
| 中文描述： | 双总线开关 |
| 封装： | CBT3306D<SOT96-1 (SO8)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT96-1.html<1<week 5, 2005,;CBT3306D<SOT96-1 (SO8)|<<http://www.nxp.com/packages/SOT96-1.html<1<week 5, 2005,; |
| 文件页数： | 11/14页 |
| 文件大小： | 250K |
| 代理商： | CBT3306D |
CBT3306_5
NXP B.V. 2010. All rights reserved.
Product data sheet
Rev. 05 — 25 March 2010
6 of 14
NXP Semiconductors
CBT3306
Dual bus switch
13. Test information
Test data is given in Table 10.
All input pulses are supplied by generators having the following characteristics: PRR
≤ 10 MHz; Z
o = 50 Ω.
The outputs are measured one at a time with one transition per measurement.
Definitions for test circuit:
RL = Load resistance.
CL = Load capacitance including jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance should be equal to output impedance Zo of the pulse generator.
VEXT = External voltage for measuring switching times.
Fig 8.
Test circuit for measuring switching times
VM
tW
10 %
90 %
0 V
VI
negative
pulse
positive
pulse
0 V
VM
90 %
10 %
tf
tr
tf
001aae331
VEXT
VCC
VI
VO
DUT
CL
RT
RL
G
Table 10.
Test data
Supply voltage
Input
Load
VEXT
VI
tr, tf
CL
RL
tPLH, tPHL
tPLZ, tPZL
tPHZ, tPZH
VCC = 5.0 V ± 0.5 V
GND to 3.0 V
≤ 2.5 ns
50 pF
500
Ω
open
7.0 V
open
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