参数资料
型号: DS21372T+
厂商: Maxim Integrated Products
文件页数: 13/22页
文件大小: 0K
描述: IC TESTER BIT ERROR 3.3V 32-TQFP
产品培训模块: Lead (SnPb) Finish for COTS
Obsolescence Mitigation Program
标准包装: 250
功能: 位误码率测试器(BERT)
接口: T1
电路数: 1
电源电压: 3 V ~ 3.6 V
电流 - 电源: 10mA
工作温度: 0°C ~ 70°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 32-TQFP
供应商设备封装: 32-TQFP(7x7)
包装: 托盘
包括: 错误计数器,样式发生器和检测器
产品目录页面: 1430 (CN2011-ZH PDF)
DS21372
20 of 22
AC CHARACTERISTICS - RECEIVE SIDE
(0
0C TO 700C FOR DS21372; V
DD=3.3V
±10%)
-40
0C to +850C for DS21372N; V
DD=3.3V
±10%)
PARAMETER
SYMBOL
MIN
TYP
MAX
UNITS
NOTES
RCLK Period
tCP
50
ns
RCLK Pulse Width
tCH
tCL
8
ns
RDATA Set Up to RCLK Rising
tSU1
5ns
RDATA Hold from RCLK Rising
tHD1
0ns
RDIS Set Up to RCLK Rising
tSU2
5ns
RDIS Hold from RCLK Rising
tHD2
0ns
RL and LC Pulse Width
tWRL
25
ns
RCLK Rise and Fall Times
tR, tF
10
ns
1
AC CHARACTERISTICS - TRANSMIT SIDE
(0
0C to 700C for DS21372; V
DD=3.3V
±10%)
-40
0C to +850C for DS21372N; V
DD=3.3V
±10%)
PARAMETER
SYMBOL
MIN
TYP
MAX
UNITS
NOTES
TCLK Period
tCP
50
ns
TCLK Pulse Width
tCH
tCL
8
Ns
ns
TDATA Delay from TCLK Rising
tDD
30
ns
TDIS Set Up to TCLK Rising
tSU
5ns
TDIS Hold from TCLK Rising
tHD
0ns
TL Pulse Width
tWTL
15
ns
TL Set Up to TCLK Rising
tSTL
5ns
TL Hold Off from TCLK Rising
tHTL
0ns
TCLK Rise and Fall Time
tR, tF
10
ns
1
NOTE:
1. The maximum rise and fall time is either 10 ns or 10% of tCP whichever is less.
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PDF描述
DS2172T+ IC TESTER BIT ERROR RATE 32-TQFP
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参数描述
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DS21372TN 功能描述:网络控制器与处理器 IC 3.3V Bit Error Rate Tester (BERT) RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流(最大值):595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray
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DS214 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:Analog IC
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