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参数资料
| 型号： | DS21455+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 137/269页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC LIU QUAD T1/E1/J1 256-BGA |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 40 |
| 类型： | 线路接口装置（LIU） |
| 驱动器/接收器数： | 4/4 |
| 规程： | T1/E1/J1 |
| 电源电压： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 256-BBGA |
| 供应商设备封装： | 256-BGA（27x27） |
| 包装： | 管件 |
| 产品目录页面： | 1430 (CN2011-ZH PDF) |
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DS21455/DS21458 Quad T1/E1/J1 Transceivers
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SAMPLE/PRELOAD
This is a mandatory instruction for the IEEE 1149.1 specification that supports two functions. The digital
I/Os of the device can be sampled at the boundary scan register without interfering with the normal
operation of the device by using the capture-DR state. SAMPLE/PRELOAD also allows the device to
shift data into the boundary scan register via JTDI using the shift-DR state.
BYPASS
When the BYPASS instruction is latched into the parallel instruction register, JTDI connects to JTDO
through the one-bit bypass test register. This allows data to pass from JTDI to JTDO not affecting the
device’s normal operation.
EXTEST
This allows testing of all interconnections to the device. When the EXTEST instruction is latched in the
instruction register, the following actions occur. Once enabled via the Update-IR state, the parallel
outputs of all digital output pins will be driven. The boundary scan register will be connected between
JTDI and JTDO. The Capture-DR will sample all digital inputs into the boundary scan register.
CLAMP
All digital outputs of the device will output data from the boundary scan parallel output while connecting
the bypass register between JTDI and JTDO. The outputs will not change during the CLAMP instruction.
HIGH-Z
All digital outputs of the device will be placed in a high-impedance state. The BYPASS register will be
connected between JTDI and JTDO.
IDCODE
When the IDCODE instruction is latched into the parallel instruction register, the identification test
register is selected. The device identification code will be loaded into the identification register on the
rising edge of JTCLK following entry into the capture-DR state. Shift-DR can be used to shift the
identification code out serially via JTDO. During test-logic-reset, the identification code is forced into the
instruction register’s parallel output. The ID code will always have a 1 in the LSB position. The next 11
bits identify the manufacturer’s JEDEC number and number of continuation bytes followed by 16 bits for
the device and 4 bits for the version (Table 35-2). Table 35-3 lists the device ID codes for the DS21455
and DS21458.
Table 35-2. ID Code Structure
MSB
LSB
Version
Contact Factory
Device ID
JEDEC
1
4 bits
16 bits
00010100001
1
Table 35-3. Device ID Codes
DEVICE
16-BIT ID
DS21455
0021h
DS21458
0022h
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PDF描述 |
|---|---|
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参数描述 |
|---|---|
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| DS21455N+ | 功能描述:网络控制器与处理器 IC Quad E1-T1-J1 Transceiver RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
| DS21458 | 功能描述:网络控制器与处理器 IC Quad E1-T1-J1 Transceiver RoHS:否 制造商:Micrel 产品:Controller Area Network (CAN) 收发器数量: 数据速率: 电源电流（最大值）:595 mA 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:PBGA-400 封装:Tray |
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