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参数资料
| 型号： | DS26303LN-75+A3 |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 72/101页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC LIU E1/T1/J1 3.3V 144-ELQFP |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 1 |
| 类型： | 线路接口装置（LIU） |
| 驱动器/接收器数： | 8/8 |
| 规程： | T1/E1/J1 |
| 电源电压： | 3.135 V ~ 3.465 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 144-LQFP 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 144-LQFP 裸露焊盘 |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | 90-26303+7N3 |
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DS26303: 3.3V, T1/E1/J1, Short-Haul, Octal Line Interface Unit
72 of 101
7 JTAG BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE AND TEST ACCESS PORT
The DS26303 IEEE 1149.1 design supports the standard instruction codes SAMPLE/PRELOAD, BYPASS, and
EXTEST. Optional public instructions included are HIGHZ, CLAMP, and IDCODE. The DS26303 contains the
following as required by IEEE 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary Scan Architecture:
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
Details on Boundary Scan Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990, IEEE
1149.1a-1993, and IEEE 1149.1b-1994. The Test Access Port has the necessary interface pins: JTRSTB, TCLK,
JTMS, JTDI, and JTDO. See the pin descriptions for details. For the latest BSDL file go to
www.maxim-ic.com/tools/bsdl/ and search for DS26303.
Figure 7-1. JTAG Functional Block Diagram
+V
INSTRUCTION
REGISTER
JTD1
JTMS
TCLK
JTRSTB
JTDO
+V
TEST ACCESS PORT
CONTROLLER
MUX
10k
Ω
10k
Ω
SELECT
OUTPUT ENABLE
10k
Ω
BYPASS REGISTER
IDENTIFICATION
REGISTER
BOUNDARY SCAN
REGISTER
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| DS26303LN-XXX+ | 制造商:DALLAS 制造商全称:Dallas Semiconductor 功能描述:3.3V, E1/T1/J1, Short-Haul, Octal Line Interface Unit |
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