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参数资料
| 型号： | DS26504L+ |
| 厂商： | Maxim Integrated Products |
| 文件页数： | 6/129页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC T1/E1/J1 64KCC ELEMENT 64LQFP |
| 产品培训模块： | Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program |
| 标准包装： | 1 |
| 功能： | BITS 元件 |
| 接口： | 64KCC，E1，T1 |
| 电路数： | 1 |
| 电源电压： | 3.14 V ~ 3.47 V |
| 电流 - 电源： | 150mA |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 64-LQFP |
| 供应商设备封装： | 64-LQFP（10x10） |
| 包装： | 托盘 |
| 包括： | * |
| 产品目录页面： | 1430 (CN2011-ZH PDF) |
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DS26504 T1/E1/J1/64KCC BITS Element
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17. JTAG BOUNDARY SCAN ARCHITECTURE AND TEST ACCESS PORT
The DS26504 supports the standard IEEE 1149.1 instruction codes SAMPLE/PRELOAD, BYPASS, and
EXTEST. Optional public instructions included are HIGHZ, CLAMP, and IDCODE. The DS26504
contains the following as required by IEEE 1149.1 Standard Test Access Port and Boundary Scan
Architecture:
Test Access Port (TAP)
TAP Controller
Instruction Register
Bypass Register
Boundary Scan Register
Device Identification Register
Details on Boundary Scan Architecture and the Test Access Port can be found in IEEE 1149.1-1990,
IEEE 1149.1a-1993, and IEEE 1149.1b-1994.
The Test Access Port has the necessary interface pins:
JTRST, JTCLK, JTMS, JTDI, and JTDO. See the
pin descriptions for details.
Figure 17-1. JTAG Functional Block Diagram
JTDI
JTMS
JTCLK
JTRST
JTDO
TEST ACCESS PORT
CONTROLLER
VDD
BOUNDRY SCAN
REGISTER
BYPASS
REGISTER
INSTRUCTION
REGISTER
IDENTIFICATION
REGISTER
MUX
SELECT
OUTPUT ENABLE
10k
Ω
10k
Ω
10k
Ω
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参数描述 |
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