参数资料
| 型号： | EL2228CSZ-T7 |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 11/12页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC AMP DUAL LOW NOISE 8-SOIC |
| 标准包装： | 1,000 |
| 放大器类型： | 电压反馈 |
| 电路数： | 2 |
| 转换速率： | 65 V/µs |
| 增益带宽积： | 40MHz |
| -3db带宽： | 80MHz |
| 电流 - 输入偏压： | 4.5µA |
| 电压 - 输入偏移： | 200µV |
| 电流 - 电源： | 5mA |
| 电流 - 输出 / 通道： | 180mA |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 5 V ~ 24 V，±2.5 V ~ 12 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 8-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 8-SOIC |
| 包装： | 带卷 (TR) |
Package Power Dissipation vs Ambient Temperature
JEDEC JESD51-3 Low Effective Thermal Conductivity
Test Board
0.7
0.6
0.4
0.2
0.1
Ambient Temperature (°C)
Powe
rDis
sipa
ti
o
n
(W
)
150
25
50
75
125
0
0.5
0.3
100
85
625mW
486mW
MSOP8
206°C/W
SO8
160°C/W
Input Bias Current vs Temperature
-2
-4
-6
-8
Junction Temperature (°C)
Input
Bias
Current
(A)
150
050
100
-50
Input Offset Voltage vs Temperature
2
-2
Junction Temperature (°C)
Inp
u
tOf
fs
et
V
o
lt
ag
e(mV
)
150
50
-50
1
0
-1
100
0
Slew Rate vs Temperature
76
74
70
66
64
Temperature (°C)
Sl
ew
R
ate
(V/s
)
150
050
100
-50
62
72
68
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
0.2
0
255075
100
125
150
Package Power Dissipation vs Ambient Temperature
JEDEC JESD51-7 High Effective Thermal Conductivity
Test Board
870mW
909mW
MSOP8
115°C/W
SO8
110°C/W
Ambient Temperature (°C)
Powe
rDis
sipa
ti
on
(W
)
8
FN7008.2
May 3, 2007
Typical Performance Curves (Continued)
EL2228
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PDF描述 |
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