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参数资料
| 型号： | EVAL-AD5165EBZ |
| 厂商： | Analog Devices Inc |
| 文件页数： | 3/16页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD EVALUATION FOR AD5165 |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 数字电位器 |
| 已用 IC / 零件： | AD5165 |
| 已供物品： | 板 |
| 相关产品： | AD5165BUJZ100-R2DKR-ND - IC DGTL POT 100K LP TSOT23-8 AD5165BUJZ100-R2CT-ND - IC DGTL POT 100K LP TSOT23-8 AD5165BUJZ100-R2TR-ND - IC DGTL POT 100K LP TSOT23-8 AD5165BUJZ100-R7-ND - IC DGTL POT 100K LP TSOT23-8 |
AD5165
Rev. 0 | Page 11 of 16
TEST CIRCUITS
Figure 27 to Figure 33 illustrate the test circuits that define the test conditions used in the product specification tables.
VMS
A
W
B
DUT
V+
V+ = VDD
1LSB = V+/2N
04749-0-031
Figure 27. Test Circuit for Potentiometer Divider Nonlinearity Error
(INL, DNL)
NO CONNECT
IW
VMS
A
W
B
DUT
04749-0-032
Figure 28. Test Circuit for Resistor Position Nonlinearity Error
(Rheostat Operation; R-INL, R-DNL)
VMS2
VMS1
VW
A
W
B
DUT
IW = VDD/RNOMINAL
RW = [VMS1 – VMS2]/IW
04749-0-033
Figure 29. Test Circuit for Wiper Resistance
04749-0-034
V
MS%
DD%
PSS (%/%) =
V+ = VDD 10%
PSRR (dB) = 20 LOG
MS
DD
(
)
VDD
VA
VMS
A
W
B
V+
V
Figure 30. Test Circuit for Power Supply Sensitivity (PSS, PSSR)
+15V
–15V
W
A
2.5V
B
VOUT
OFFSET
GND
DUT
AD8610
VIN
04749-0-035
Figure 31. Test Circuit for Gain vs. Frequency
W
B
GND TO VDD
DUT
ISW
CODE = 0x00
RSW =
0.1V
ISW
0.1V
04749-0-036
Figure 32. Test Circuit for Incremental ON Resistance
W
B
VCM
ICM
A
NC
GND
NC
VDD
DUT
NC = NO CONNECT
04749-0-037
Figure 33. Test Circuit for Common-Mode Leakage Current
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| EVAL-AD5172SDZ | 功能描述:BOARD EVAL FOR AD5172 RoHS:是 类别:编程器，开发系统 >> 评估演示板和套件 系列:- 标准包装:1 系列:- 主要目的:电信，线路接口单元（LIU） 嵌入式:- 已用 IC / 零件:IDT82V2081 主要属性:T1/J1/E1 LIU 次要属性:- 已供物品:板，电源，线缆，CD 其它名称:82EBV2081 |
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| EVAL-AD5222SDZ | 功能描述:BOARD EVAL FOR AD5222 RoHS:是 类别:编程器，开发系统 >> 评估演示板和套件 系列:* 标准包装:1 系列:- 主要目的:电信，线路接口单元（LIU） 嵌入式:- 已用 IC / 零件:IDT82V2081 主要属性:T1/J1/E1 LIU 次要属性:- 已供物品:板，电源，线缆，CD 其它名称:82EBV2081 |
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