参数资料
型号: EVAL-ADM1185EBZ
厂商: Analog Devices Inc
文件页数: 7/16页
文件大小: 0K
描述: BOARD EVALUATION FOR ADM1185
产品培训模块: ADM1185
标准包装: 1
主要目的: 电源管理,电源监控器/跟踪器/序列发生器
嵌入式:
已用 IC / 零件: ADM1185
主要属性: 4 输入,3 开漏极启用输出
次要属性: 开漏极电源正常输出
已供物品: 板,文档,样品 IC
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ADM1185
60
180
100mV OVERDRIVE
160
50
140
40
120
100
30
80
20
60
40
10
20
0
0
2.7 2.9 3.1 3.3 3.5 3.7 3.9 4.1 4.3 4.5 4.7 4.9 5.1 5.3 5.5
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
1 00
VOLTAGE (V)
Figure 10. VIN1 to OUT1 Falling Delay vs. Supply Voltage
50
INPUT OVERDRIVE (mV)
Figure 13. Trip Threshold Maximum Transient Duration vs. Input Overdrive
200
40
30
20
10
0
VCC = 3.3V, 100mV OVERDRIVE
180
160
140
120
100
80
60
40
20
0
APPLICABLE ONLY TO
CHANNEL 2 AND CHANNEL 3
–40 –30 –20 –10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
TEMPERATURE (°C)
Figure 11. VINx to Output Falling Delay vs. Temperature
0.610
0.608
400
350
INPUT OVERDRIVE (mV)
Figure 14. Propagation Delay vs. Input Overdrive
0.606
300
0.604
0.602
0.600
0.598
250
200
150
0.596
100
0.594
0.592
0.590
50
0
–40 –30 –20 –10
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
0
2
4
6
8
10
12
14
16
18
20
22
2 4
TEMPERATURE (°C)
Figure 12. VINx Trip Threshold vs. Temperature
Rev. B | Page 7 of 16
OUTPUT SINK CURRENT (mA)
Figure 15. Output Low Voltage vs. Output Sink Current
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