参数资料
型号: FFH30S60STU
厂商: Fairchild Semiconductor
文件页数: 2/5页
文件大小: 318K
描述: DIODE STEALTHII 600V 30A TO247-2
产品变化通告: Lead Frame Change 20/Dec/2007
产品目录绘图: Power Diode Circuit
标准包装: 150
二极管类型: 标准
电压 - (Vr)(最大): 600V
电流 - 平均整流 (Io): 30A
电压 - 在 If 时为正向 (Vf)(最大): 2.6V @ 30A
速度: 快速恢复 =< 500 ns,> 200mA(Io)
反向恢复时间(trr): 40ns
电流 - 在 Vr 时反向漏电: 100µA @ 600V
安装类型: 通孔,径向
封装/外壳: TO-247-2
供应商设备封装: TO-247
包装: 管件
产品目录页面: 1614 (CN2011-ZH PDF)
FFH30S60S
STEALTH? II Diode
?2007 Fairchild Semiconductor Corporation
FFH30S60S Rev. C1
www.fairchildsemi.com
2
Electrical Characteristics TC = 25oC
unless otherwise noted.
Symbol
Parameter
Min.
Typ.
Max.
Unit
VF1
IF
= 30 A
IF
= 30 A
TC = 25oC
TC = 125oC
-
-
2.1
1.6
2.6
-
V
IR1
VR
= 600 V
TC = 25oC
VR
= 600 V
TC = 125oC
-
-
-
-
100
500
?A
trr
IF
= 1 A, di
F/dt = 100 A/?s, VR
= 30 V
TC = 25oC
-
25
35
ns
trr
Irr
S factor
Qrr
IF
= 30 A, di
F/dt = 200 A/?s, VR
= 390 V
TC = 25oC
-
-
-
-
28
2.4
0.9
34
40
-
-
-
ns
A
nC
trr
Irr
S factor
Qrr
IF
= 30 A, di
F/dt = 200 A/?s, VR
= 390 V
TC = 125oC
-
-
-
-
75
6.3
0.9
236
-
-
-
-
ns
A
nC
WAVL
Avalanche Energy ( L = 40 mH)
20
-
-
mJ
Figure 1. Diode Reverse Recovery Test Circuit & Waveform
Figure 2. Unclamped Inductive Switching Test Circuit & Waveform
Test Circuit and Waveforms
Notes:
1: Pulse: Test Pulse width = 300 ?s, Duty Cycle = 2%
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