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参数资料
| 型号： | FXO-HC335-162 |
| 厂商： | Fox Electronics |
| 文件页数： | 5/24页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | OSC 162 MHZ 3.3V HCMOS SMD |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | FXO-HC33, XPRESSO |
| 类型： | XO（标准） |
| 频率： | 162MHz |
| 功能： | 三态（输出启用） |
| 输出： | HCMOS |
| 电源电压： | 3.3V |
| 频率稳定性： | ±50ppm |
| 工作温度： | -20°C ~ 70°C |
| 电流 - 电源（最大）： | 55mA |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 尺寸/尺寸： | 0.130" L x 0.102" W（3.30mm x 2.60mm） |
| 高度： | 0.039"（1.00mm） |
| 封装/外壳： | 4-SMD，无引线（DFN，LCC） |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
FXO-HC33 Series
Phase Noise
0
-20
-40
-60
156.25MHz
3.3V Phase Noise Graphs
(dBc/Hz vs. offset frequency
Data Collected using HP 3048A
Four Frequencies from Jitter Tables
62.5MHz only to 2MHz offset due to Equipment Limitation
125MHz
-80
-100
106.25MHz
-120
62.5MHz
-140
-160
-180
10
100
1000
10000
100000
1000000
10000000
100000000
Jitter is frequency dependent. Below are typical values at select frequencies.
Phase Jitter & Time Interval Error (TIE)
Frequency
62.5 MHz
106.25 MHz
125 MHz
156.25 MHz
Phase Jitter
(12kHz to 20MHz)
0.8
0.8
0.8
1.0
TIE
(Sigma of Jitter Distribution)
2.9
3.2
2.3
3.0
Units
pS RMS
pS RMS
pS RMS
pS RMS
Phase Jitter is integrated from HP3048 Phase Noise Measurement System; measured directly into 50 ohm input; V DD = 3.3V.
TIE was measured on LeCroy LC684 Digital Storage Scope, directly into 50 ohm input, with Amherst M1 software; V DD = 3.3V.
Per MJSQ spec (Methodologies for Jitter and Signal Quality specifications)
Random & Deterministic Jitter Composition
Frequency
62.5 MHz
106.25 MHz
125 MHz
156.25 MHz
Random (Rj)
(pS RMS)
1.2
1.3
1.2
1.2
Deterministic (Dj)
(pS P-P)
9.2
9.0
8.7
12.7
Total Jitter (Tj)
(14 x Rj) + Dj
25.6 pS
27.2 pS
26.5 pS
30.0 pS
Rj and Dj , measured on LeCroy LC684 Digital Storage Scope, directly into 50 ohm input, with Amherst M1 software.
Per MJSQ spec (Methodologies for Jitter and Signal Quality specifications)
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? 2012 FOX ELECTRONICS | ISO9001:2008 Certified
DWG-5052
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PDF描述 |
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参数描述 |
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