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参数资料
| 型号： | FXO-HC735R-31.104 |
| 厂商： | Fox Electronics |
| 文件页数： | 13/14页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | OSC 31.104 MHZ 3.3V HCMOS SMD |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | FXO-HC73, XPRESSO |
| 类型： | XO（标准） |
| 频率： | 31.104MHz |
| 功能： | 三态（输出启用） |
| 输出： | HCMOS |
| 电源电压： | 3.3V |
| 频率稳定性： | ±50ppm |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 电流 - 电源（最大）： | 35mA |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 尺寸/尺寸： | 0.295" L x 0.205" W（7.50mm x 5.20mm） |
| 高度： | 0.055"（1.40mm） |
| 封装/外壳： | 6-SMD，无引线（DFN，LCC） |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
FXO-HC73 Series
MTTF / FITS Calculations
Products are grouped together by process for MTTF calculations.
(All XpressO output and package types are manufactured with the same process)
Number of Parts Tested:
Number of Failures: 0
360 (120 of each output type: HCMOS, LVDS, LVPECL)
Test Temperature:
Number of Hours:
125°C
2000
MTTF was calculated using the following formulas:
[1.] Device Hours ( devhrs ) = (number of devices) x (hours at elevated temperature in °K)
[2.] MTTF =
devhrs × af × 2
χ 2
[3.] FITS =
Where:
Label
1
MTTF
Name
* 10 9
Formula/Value
e
) × ( ? )
af
Acceleration Factor
(
eV
k
1 1
t 1 t 2
eV
k
t 1
t 2
Θ
r
χ 2
Activation Energy
Bolzman’s Constant
Theta
Failures
Chi-Square
0.40 V
8.62 X 10 -5 eV /°K
Operating Temperature (°K)
Accelerated Temperature (°K)
Confidence Level (60% industry standard)
Number of failed devices
statistical significance for bivariate tabular analysis [table look-
up] based on assumed Θ (Theta – confidence) and number of
failures (r) For zero failures (60% Confidence): χ 2 = 1.830
DEVICE-HOURS = 360 x 2000 HOURS = 720,000
e
?
ACCELERATION FACTOR =
(
0 . 40
8 . 625
) × (
1 1
298 398
)
= 49.91009
MTTF = 720, 000 × 49.91009 × 2 = 15,607,065 Hours
1 . 833
Failure Rate =
1 . 833
720 , 000 × 49 . 91009 × 2
= 6.41E-8
FITS = Failure Rate *1E9 = 64
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? 2008 FOX ELECTRONICS | ISO9001:2000 Certified
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