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参数资料
| 型号： | FXO-LC735-425 |
| 厂商： | Fox Electronics |
| 文件页数： | 5/15页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | OSC 425 MHZ 3.3V LVDS SMD |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | FXO-LC73, XPRESSO |
| 类型： | XO（标准） |
| 频率： | 425MHz |
| 功能： | 三态（输出启用） |
| 输出： | LVDS |
| 电源电压： | 3.3V |
| 频率稳定性： | ±50ppm |
| 工作温度： | -20°C ~ 70°C |
| 电流 - 电源（最大）： | 100mA |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 尺寸/尺寸： | 0.295" L x 0.205" W（7.50mm x 5.20mm） |
| 高度： | 0.055"（1.40mm） |
| 封装/外壳： | 6-SMD，无引线（DFN，LCC） |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
FXO-LC73 Series
Phase Noise
0 dBc
-10dBc
-20dBc
-30dBc
-40dBc
Phase Noise Graph
(dBc / Hz) vs. offset frequency
-50dBc
212.5 MHz
-60dBc
622.08 MHz
FOUR frequencies matching
the below jitter measurements
Data Collected using HP 3048A
-70dBc
-80dBc
62.5 MHz
-90dBc
-100dBc
-110dBc
-120dBc
156.25MHz
-130dBc
62.5 MHz
-140dBc
-150dBc
-160dBc
622.08 MHz
156.25MHz
212.5 MHz
10
100
1k
10k
100k
1M
10M
40M
Offset Frequency
(10Hz to 40MHz)
Jitter is frequency dependent. Below are typical values at select frequencies.
LVDS Phase Jitter & Time Interval Error (TIE)
Frequency
62.5 MHz
156.25 MHz
212.5 MHz
622.08MHz
Phase Jitter
(12kHz to 20MHz)
0.77
1.19
0.89
0.99
TIE
(Sigma of Jitter Distribution)
3.0
3.6
3.9
3.2
Units
pS RMS
pS RMS
pS RMS
pS RMS
Phase Jitter is integrated from HP3048 Phase Noise Measurement System; measured directly into 50 ohm input; V DD = 3.3V.
TIE was measured on LeCroy LC684 Digital Storage Scope, directly into 50 ohm input, with Amherst M1 software; V DD = 3.3V.
Per MJSQ spec (Methodologies for Jitter and Signal Quality specifications)
LVDS Random & Deterministic Jitter Composition
Frequency
62.5 MHz
156.25 MHz
212.5 MHz
622.08 MHz
Random (Rj)
(pS RMS)
1.3
1.3
0.9
1.1
Deterministic (Dj)
(pS P-P)
7.0
5.8
6.7
5.3
Total Jitter (Tj)
(14 x Rj) + Dj
24.9 pS
23.6 pS
18.7 pS
20.7 pS
Rj and Dj , measured on LeCroy LC684 Digital Storage Scope, directly into 50 ohm input, with Amherst M1 software.
Per MJSQ spec (Methodologies for Jitter and Signal Quality specifications)
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? 2008 FOX ELECTRONICS | ISO9001:2000 Certified
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参数描述 |
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