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参数资料
| 型号： | GAL16V8D-25QJNI |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 9/26页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC PLD 8MACRO 5.0V 25NS 20PLCC |
| 标准包装： | 46 |
| 系列： | GAL®16V8 |
| 可编程类型： | EE PLD |
| 最大延迟时间 tpd(1)： | 25.0ns |
| 电压电源 - 内部： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 宏单元数： | 8 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-LCC（J 形引线） |
| 供应商设备封装： | 20-PLCC（9x9） |
| 包装： | 管件 |
Specifications GAL16V8
15
fmax with Internal Feedback 1/(tsu+tcf)
Note: tcf is a calculated value, derived by subtracting tsu from
the period of fmax w/internal feedback (tcf = 1/fmax - tsu). The
value of tcf is used primarily when calculating the delay from
clocking a register to a combinatorial output (through registered
feedback), as shown above. For example, the timing from clock
to a combinatorial output is equal to tcf + tpd.
fmax with External Feedback 1/(tsu+tco)
Note: fmax with external feedback is calculated from measured
tsu and tco.
fmax with No Feedback
Note: fmax with no feedback may be less than 1/(twh + twl). This
is to allow for a clock duty cycle of other than 50%.
REGISTER
LOGIC
ARRAY
CLK
tsu + th
REGISTER
LOGIC
ARRAY
tco
tsu
CLK
Test Condition
R1
R2
CL
A
200Ω
390Ω
50pF
B
Active High
∞
390Ω
50pF
Active Low
200Ω
390Ω
50pF
C
Active High
∞
390Ω
5pF
Active Low
200Ω
390Ω
5pF
CLK
REGISTER
LOGIC
ARRAY
tcf
tpd
TEST POINT
C *
L
FROM OUTPUT (O/Q)
UNDER TEST
+5V
*C L INCLUDES TEST FIXTURE AND PROBE CAPACITANCE
R2
R1
GAL16V8D (except -3) Output Load Conditions (see figure
above)
fmax Descriptions
Switching Test Conditions
Input Pulse Levels
Table 2-0003/16V8
Input Rise
and Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Timing Reference Levels
Output Load
GND to 3.0V
1.5V
See figure at right
3-state levels are measured 0.5V from
steady-state active level.
2 – 3ns 10% – 90%
1.5ns 10% – 90%
GAL16V8D-10
(and slower)
GAL16V8D-3/-5/-7
ALL
DEVICES
DISCONTINUED
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PDF描述 |
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参数描述 |
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