参数资料
| 型号： | HI3-0518-5Z |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 4/8页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MULTIPLEXER 8X1 18DIP |
| 标准包装： | 20 |
| 功能： | 多路复用器 |
| 电路： | 1 x 8:1 |
| 导通状态电阻： | 750 欧姆 |
| 电压电源： | 双电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | ±15V |
| 电流 - 电源： | 18mA |
| 工作温度： | 0°C ~ 75°C |
| 安装类型： | 通孔 |
| 封装/外壳： | 18-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 供应商设备封装： | 18-PDIP |
| 包装： | 管件 |
4
I+, Current
VEN = 2.4V
Full
-
15
-
18
mA
I-, Current
Full
-
15
-
18
mA
NOTES:
3. VDD/LLS pin = open or grounded for TTL compatibility. VDD/LLS pin = VDD for CMOS compatibility.
4. At temperatures above 90oC, care must be taken to assure VIN remains at least 1.0V below the VSUPPLY for proper operation.
5. VIN = ±10V, IOUT = -100A.
6. VIN = 0V, CL = 100pF, enable input pulse = 3V, f = 500kHz.
7. CL = 40pF, RL = 1K, VEN = 0.8V, VIN = 3VRMS, f = 500kHz. Due to the pin to pin capacitance between IN 8/4B and OUT B, channel 8/4B
exhibits 60dB of OFF isolation under the above test conditions.
Electrical Specifications
Supplies = +15V, -15V; VAH (Logic Level High) = 2.4V, VAL (Logic Level Low) = 0.8V; VDD/LLS = GND
(Note 3), Unless Otherwise Specified (Continued)
PARAMETER
TEST
CONDITIONS
TEMP
(oC)
-8
-5
UNITS
MIN
TYP
MAX
MIN
TYP
MAX
Test Circuits and Waveforms VDD/LLS = GND, Unless Otherwise Specified
FIGURE 1. ON RESISTANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 2. ID(OFF) TEST CIRCUIT (NOTE 8)
FIGURE 3. IS(OFF) TEST CIRCUIT (NOTE 8)
FIGURE 4. ID(ON) TEST CIRCUIT (NOTE 8)
FIGURE 5A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 5B. TEST CIRCUIT
FIGURE 5. ACCESS TIME
NOTE:
8. Two measurements per channel:
±10V and 10V. (Two measurements per device for ID(OFF) ±10V and 10V.)
OUT
IN
VIN
V2
IOUT 100A
rON =
V2
100
A
±10V
OUT
±10V
EN
0.8V
10V
A ID(OFF)
±
OUT
EN
±10V
A
IS(OFF)
0.8V
10V
±
OUT
±10V
EN
2.4V
10V
A
ID(ON)
±
A2
A0
50%
3.5V
10%
+10V
0V
OUTPUT
-10V
tA
ADDRESS
DRIVE (VA)
±10V
+15V
V+
V-
IN 1
IN 2-7
IN 8
OUTB
A0
EN
A1
10
50
k
pF
-15V
A2/SDS
50
VA
2.4V
GND
VDD/LLS
10V
±
OUTA
HI-518
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