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参数资料
| 型号： | ICS8427DY-02LFT |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 17/23页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SYNTHESIZER 500MHZ 32-LQFP |
| 标准包装： | 1,000 |
| 系列： | HiPerClockS™ |
| 类型： | 频率合成器 |
| PLL： | 带旁路 |
| 输入： | 晶体 |
| 输出： | LVHSTL |
| 电路数： | 1 |
| 比率 - 输入:输出： | 1:6 |
| 差分 - 输入:输出： | 无/是 |
| 频率 - 最大： | 500MHz |
| 除法器/乘法器： | 是/无 |
| 电源电压： | 2.375 V ~ 2.625 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 32-LQFP |
| 供应商设备封装： | 32-TQFP（7x7） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
| 其它名称： | 8427DY-02LFT |
IDT / ICS LVHSTL FREQUENCY SYNTHESIZER
3
ICS8427DY-02 REV A OCTOBER 13, 2006
ICS8427-02
500MHZ, LOW JITTER, LVCMOS/CRYSSTAL-TO-LVHSTL FREQUENCY SYNTHESIZER
t
S
t
H
t
S
T1
T0
N2
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4 M3
M2
M1
M0 SSC
T1
T0
N2
N1
N0
M8
M7
M6
M5
M4 M3
M2
M1
M0 SSC
Time
M AND N DIVIDERS, SSC AND TEST MODE CONTROL BITS
1
T0
T2
N1
N0
N8
M7
M6
M5
M4
M3
M2
M1
M0
MC
S
Test Mode
Control Register
N Divider
M Divider
SSC Control
Register
S_DATA
TEST Output
T1:T0 = 01
Shift Register
Data transfer from shift register
to M and N dividers and SSC and Test
Control Bits on a low-to-high transi-
tion of S_LOAD.
1
T0
T2
N1
N0
N8
M7
M6
M5
M4
M3
M2
M1
M0
MC
S
ICS8427-02 SHIFT REGISTER OPERATION – READ BACK CAPABILITY
1. Device powers up by default in Test Mode 01.
The Test Output in this case is wired to the shift register.
2. Shift in serial data stream and latch into M, N, T1, T0 and SSC Control Bits.
Shift in T1:T0=00, so that the TEST Output will be turned off after the bits are shifted in and latched.
Data transferred to M, N dividers, TEST and SSC Control Bits.
Changes to M, N, SSC and TEST mode bits take affect at this time.
Data latched into M, N Dividers, TEST and SSC control bits.
TEST Output
S_CLOCK
S_DATA
S_LOAD
TABLE 1. SSC FUNCTION TABLE
C
S
Se
t
a
t
S
C
S
0)
t
l
u
a
f
e
d
p
u
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w
o
d
%
5
.
0
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PDF描述 |
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参数描述 |
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