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参数资料
| 型号： | ICS85105AGILF |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 15/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC CLOCK BUFFER MUX 2:5 20-TSSOP |
| 标准包装： | 74 |
| 系列： | HiPerClockS™ |
| 类型： | 扇出缓冲器（分配），多路复用器 |
| 电路数： | 1 |
| 比率 - 输入:输出： | 2:5 |
| 差分 - 输入:输出： | 是/是 |
| 输入： | HCSL，LVCMOS，LVDS，LVHSTL，LVPECL，LVTTL，SSTL |
| 输出： | HCSL |
| 频率 - 最大： | 500MHz |
| 电源电压： | 2.97 V ~ 3.63 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-TSSOP（0.173"，4.40mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 20-TSSOP |
| 包装： | 管件 |
| 其它名称： | 800-1152 800-1152-5 800-1152-ND 85105AGILF |
ICS85105AGI REVISION A MAY 27, 2011
7
2011 Integrated Device Technology, Inc.
ICS85105I Data Sheet
LOW SKEW, 1-TO-5, DIFFERENTIAL/LVCMOS-TO-0.7V HCSL FANOUT BUFFER
PARAMETER MEASUREMENT INFORMATION
DIFFERENTIAL INPUT LEVELS
HCSL OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
475
Ω
33
Ω
50
Ω
50
Ω
33
Ω
49.9
Ω
49.9
Ω
HCSL
GND
2pF
Qx
nQx
0V
IREF
3.3V±10%
VDD
HCSL OUTPUT LOAD AC TEST CIRCUIT
PART-TO-PART SKEW
tsk(o)
nQx
Qx
nQy
Qy
tsk(pp)
nQx
Qx
nQy
Qy
PART 1
PART 2
V
CMR
Cross Points
V
PP
GND
nCLK0
V
DD
CLK0
t
PD
OUTPUT SKEW (DIFFERENTIAL INPUT)
CLK0
nCLK0
Q0:Q4
nQ0:nQ4
t
PD
CLK1
Q0:Q4
nQ0:nQ4
PROPAGATION DELAY (DIFFERENTIAL INPUTS)
PROPAGATION DELAY (LVCMOS INPUT)
475
Ω
50
Ω
50
Ω
HCSL
GND
0V
SCOPE
IREF
3.3V±10%
VDD
DIFFERENTIAL MEASUREMENT POINTS FOR RISE/FALL TIME
Q - nQ
-150mV
+150mV
0.0V
Fall Edge Rate
Rise Edge Rate
This load condition is used for I
DD
,
tsk(o), t
PD
, and
tjit measurements.
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PDF描述 |
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| ICS85108AGILFT | 功能描述:IC CLK BUFFER 1:8 500MHZ 24TSSOP RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 时钟/计时 - 时钟缓冲器，驱动器 系列:HiPerClockS™ 标准包装:74 系列:- 类型:扇出缓冲器（分配） 电路数:1 比率 - 输入:输出:1:10 差分 - 输入:输出:是/是 输入:HCSL, LVCMOS, LVDS, LVPECL, LVTTL 输出:HCSL，LVDS 频率 - 最大:400MHz 电源电压:3 V ~ 3.6 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 安装类型:表面贴装 封装/外壳:32-VFQFN 裸露焊盘 供应商设备封装:32-QFN（5x5） 包装:管件 |
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