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参数资料
| 型号： | IDT7027S35PF |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 8/19页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 512KBIT 35NS 100TQFP |
| 标准包装： | 6 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 双端口，异步 |
| 存储容量： | 512K (32K x 16) |
| 速度： | 35ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-TQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | 7027S35PF |
IDT7027S/L
High-Speed 32K x 16 Dual-Port Static RAM
Waveform of Read Cycles (5)
ADDR
t RC
Industrial and Commercial Temperature Ranges
CE
(6)
(4)
t AA
(4)
t ACE
t AOE
(4)
OE
t ABE (4)
UB , LB
R/ W
DATA OUT
t LZ
(1)
VALID DATA
(4)
t OH
BUSY OUT
t HZ
(2)
Timing of Power-Up Power-Down
CE (6)
t BDD
(3,4)
3199 drw 05
I CC
t PU
50%
t PD
50%
I SB
3199 drw 06
.
NOTES:
1. Timing depends on which signal is asserted last, CE , OE , LB , or UB .
2. Timing depends on which signal is de-asserted first CE , OE , LB , or UB .
3. t BDD delay is required only in cases where the opposite port is completing a write operation to the same address location. For simultaneous read operations BUSY
has no relation to valid output data.
4. Start of valid data depends on which timing becomes effective last t AOE , t ACE , t AA or t BDD .
5. SEM = V IH .
6. Refer to Chip Enable Truth Table.
8
6.42
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PDF描述 |
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参数描述 |
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| IDT7027S55PF8 | 功能描述:IC SRAM 512KBIT 55NS 100TQFP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 标准包装:1,000 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 双端口，同步 存储容量:1.125M（32K x 36） 速度:5ns 接口:并联 电源电压:3.15 V ~ 3.45 V 工作温度:-40°C ~ 85°C 封装/外壳:256-LBGA 供应商设备封装:256-CABGA（17x17） 包装:带卷 (TR) 其它名称:70V3579S5BCI8 |
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